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  • PCS-LED300RC日本npinet显微镜照明高亮度LED光纤光源

    日本npinet显微镜照明高亮度LED光纤光源 这是一款新一代高亮度 LED 光纤光源装置,光量可媲美传统的金属卤化物灯(MH 灯)。 采用白光 LED,以“直流恒流驱动 + PWM 调光”实现稳定、高效照明。

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    2025-12-16

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  • PS-LED2 + LED-BOX-6570日本npinet高稳定高亮度 LED光纤光源装置

    日本npinet高稳定高亮度 LED光纤光源装置 一款寿命约为卤素光源 50 倍(约 40 000 小时)、功耗却不到其 1/5 的节能型 LED 光纤光源系统。

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    2025-12-16

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  • PCS-UHX-100/150日本npinet多功能高稳定性调光光源装置

    日本npinet多功能高稳定性调光光源装置 兼具高稳定性与多功能性的光源装置。 采用通用调光(选配),实现平滑且精密的亮度调节。

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    2025-12-16

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  • PCS-MH375RC日本npinet金属卤化物灯365w高功率光源

    日本npinet金属卤化物灯365w高功率光源 采用大功率直流点灯 HID 灯,光量达到公司原 250 W 机(PCS-UMX250)的约 1.8 倍 灯寿命约 2 000 h(光量降至初始 60 %),连续运行仍保持高稳定性

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    2025-12-16

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  • PIS-UHX日本npinet硅晶圆缺陷检查近红外卤素光源

    日本npinet硅晶圆缺陷检查近红外卤素光源 PIS-UHX = 150 W 直流卤素 + 即插滤片 + 光纤输出,在 900-1 700 nm 波段为产线/实验室提供高稳定、可定制的近红外照明,轻松实现“可见光看不到”的内部质量检测。

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    2025-12-16

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  • YP-250I/YP-150IYamada山田光学玻璃基板划伤缺陷检查灯

    Yamada山田光学玻璃基板划伤缺陷检查灯 本装置用于半导体晶圆及液晶基板在制程中最耗时、最依赖人工的“最终表面”宏观检查,可快速发现异物、划痕、研磨不均、雾斑、滑移等各类缺陷。 凭借高照度照明,可识别表面小至 0.2 μm 的微小颗粒。

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    2025-12-16

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  • YP-250I/YP-150I日本yamada山田光学光掩膜缺陷卤素检查灯

    日本yamada山田光学光掩膜缺陷卤素检查灯 本装置用于半导体晶圆及液晶基板在制程中最耗时、最依赖人工的“最终表面”宏观检查,可快速发现异物、划痕、研磨不均、雾斑、滑移等各类缺陷。

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    2025-12-16

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  • YP-250IYamada山田光学0.2μm微小颗粒识别卤素灯

    Yamada山田光学0.2μm微小颗粒识别卤素灯 本装置用于半导体晶圆及液晶基板在制程中最耗时、最依赖人工的“最终表面”宏观检查,可快速发现异物、划痕、研磨不均、雾斑、滑移等各类缺陷。

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    2025-12-16

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