PI、BCB薄膜研发高阻评估高电阻率计

PI、BCB薄膜研发高阻评估高电阻率计 
PI、BCB薄膜研发高阻评估高电阻率计 
高电阻电阻率计
用途：测量绝缘材料、半导体薄膜、防静电层等的高表面电阻率（Ω/□）与体积电阻率（Ω·cm），覆盖 10³–10¹⁴ Ω 的超宽量程，适用于研发、品管、FA 实验室

1. 超宽量程单台覆盖
• 10³ – 10¹⁴ Ω（@ 1 V–1000 V），无需更换主机即可测防静电薄膜到绝缘树脂。
2. 1 V–1000 V 可编程扫描
• 29 档施加电压，带“自动电压扫描"模式，一次获得电阻-电压曲线，便于研究材料的非线性、击穿特性。
3. 双环电极 + 表面/体积切换
• 符合 JIS K 6911、ASTM D257 的同心双环电极，标配 UR-SS 探头；主机内置继电器，一键完成表面 ↔ 体积电阻率切换，无需外接切换盒。
4. 超低泄漏电流输入
• 前置放大器输入阻抗 > 2×10¹⁴ Ω，最小分辨电流 0.1 fA，保证 10¹⁴ Ω 量级仍具 ±2 % 精度。
5. 样品带电自动放电
• 测量前/后自动施加反向电压放电，防止静电残留导致误差或击穿。
6. 温湿度同步记录
• 内置温湿度传感器，数据文件自动附带 T/RH，方便进行 IEC 61340 标准条件下的电阻率对比。
7. 多模式软件
• 定时测量、斜坡扫描、阶跃电压、I-t 曲线、回读电流-时间衰减，可用于评估材料极化、陷阱能级。
8. 数据输出
• 2000 组内部存储 + USB 直接导出 CSV/PDF；可选 LAN 接口，与 LIMS 对接。

• 防静电包装材料（袋、泡棉、周转箱）表面电阻率 IEC 61340-5-1 认证测试
• 电子纸、OLED 绝缘层、TFT 钝化层体积电阻率评价
• 光伏背板、封装 EVA、POE 绝缘层 FA 分析
• 半导体/LED 封装环氧树脂、PI、BCB 薄膜高阻评估
• 功能性薄膜：透明绝缘层、阻水层、DLC 层击穿特性扫描