高电阻率计 包装材料防静电特性评估 测量绝缘材料、半导体薄膜、防静电层等的高表面电阻率（Ω/□）与体积电阻率（Ω·cm），覆盖 10³–10¹⁴ Ω 的超宽量程，适用于研发、品管、FA 实验室。

PI、BCB薄膜研发高阻评估高电阻率计 测量绝缘材料、半导体薄膜、防静电层等的高表面电阻率（Ω/□）与体积电阻率（Ω·cm），覆盖 10³–10¹⁴ Ω 的超宽量程，适用于研发、品管、FA 实验室

绝缘高阻材料测量台式高电阻率计 超宽量程单台覆盖 10³ – 10¹⁴ Ω（@ 1 V–1000 V），无需更换主机即可测防静电薄膜到绝缘树脂。 1 V–1000 V 可编程扫描 29 档施加电压，带“自动电压扫描”模式，一次获得电阻-电压曲线，便于研究材料的非线性、击穿特性。

nittoseiko环氧树脂半导体薄膜高电阻率计 用途：测量绝缘材料、半导体薄膜、防静电层等的高表面电阻率（Ω/□）与体积电阻率（Ω·cm），覆盖 10³–10¹⁴ Ω 的超宽量程，适用于研发、品管、FA 实验室。

液晶显示器触控评估自动电阻率测定仪 对导电薄膜、金属箔、ITO 玻璃、触控/光伏大板等进行全自动二维 mapping，快速可视化整板电阻率（Ω/□）分布与均匀性，适用于生产线来料检验、工艺优化与失效分析。

桌面型ITO玻璃膜厚分布可视化低电阻率计 对导电薄膜、金属膜、ITO 玻璃等样品进行“表面电阻率 Ω/□”与“体积电阻率 Ω·cm”二维 mapping，快速可视化膜厚/组分均匀性。

导电薄膜膜厚分布评估低电阻率自动测定仪 对导电薄膜、金属膜、ITO 玻璃等样品进行“表面电阻率 Ω/□”与“体积电阻率 Ω·cm”二维 mapping，快速可视化膜厚/组分均匀性。

药品食品粉体压缩导电性评估自动电阻测量仪 全自动一键测量 设定目标载荷后按 START，加压、电阻率计算、密度计算、数据保存全部自动完成。 超低载荷对应（0.01 kN 起） 新开发“气缸泵”结构，可对易碎、低屈服粉体进行无破坏阶梯加压，分辨率 0.001 kN。 粉体专用 4 探针 & 环形电极 同一探头内集成 4 探针（体积电阻率）与环形电极（表面/泄漏电流抑制），无需更换夹具即可在任意压力下