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日本seiwaopt晶圆微裂纹检测近红外卤素光源金属裂纹、气孔、夹杂物检测；热处理效果分析，专为无损检测设计，特别适用于硅晶圆内部检查和背面图案观察等应用。
产品型号：SIS-150-AIR厂商性质：经销商更新时间：2026-02-25访 问 量：11
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日本seiwaopt晶圆微裂纹检测近红外卤素光源
日本seiwaopt晶圆微裂纹检测近红外卤素光源
| 行业 | 具体应用 |
|---|---|
| 半导体制造 | Si晶圆内部杂质、微裂纹检测；背面电路图案观察 |
| 食品/农产品 | 水果糖度分布、水分含量无损检测；虫害及成熟度分析 |
| 制药/生物 | 药片成分均匀性检测；生物组织荧光成像 |
| 钢铁/金属 | 金属裂纹、气孔、夹杂物检测；热处理效果分析 |
| 规格项目 | SIS-150-NIR | SIS-150-AIR |
|---|---|---|
| 额定输入电压 | AC100-240V | AC100-240V |
| 额定输入频率 | 50/60Hz | 50/60Hz |
| 照明方式 | 直流点灯方式 | 直流点灯方式 |
| 照射波长 | 400～1100nm | 400～1700nm |
| 峰值波长 | 800nm | 1000nm |
| 光强调节 | 输出电压可变（DC2V～15V），光强0.1%～100%可调 | 同左 |
| 保护功能 | 过流保护（电源重启恢复）、过温保护（自动恢复） | 同左 |
| 冷却方式 | 强制风扇冷却 | 强制风扇冷却 |
| 工作温度/湿度 | 0℃～40℃ / 20%～80%RH（无结露） | 同左 |
| 外形尺寸 | W124 × H165 × D224mm（不含突起） | 同左 |
| 重量 | 约2.7kg | 约2.7kg |
| 光导要求 | 标准规格 | 需专用耐热光导 |
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