日本leimac模拟同轴落射照明高照度高均一性

日本leimac模拟同轴落射照明高照度高均一性

日本leimac模拟同轴落射照明高照度高均一性

1. 产品核心定位：采用半反射镜技术实现的疑似同轴落射照明，在紧凑的机身体积内实现了高照度、高发光均一性的双重优势，光线可沿相机轴同方向照射，是针对高反光表面精密检测打造的专用工业视觉照明产品。

2. 核心产品优势

• 同轴照射适配正反射检测：借助半反射镜实现相机轴与光轴同向照射，可通过正反射成像清晰捕捉被测物表面细节，对微划痕、印字 / 文字的检测好，尤其适配镜面、高反光材质的工件检测；

• 照度大幅提升：相较传统系列照度显著提高，不同发光色提升幅度为 10%（绿色）~50%（白色），其中白色光相对照度达 158%，红色 128%、蓝色 115%、绿色 105%，满足高精度检测的高照度需求；

• 高均一广域照射：发光均匀性优异，光线可覆盖至照射区域周边，能对更广的区域进行清晰成像，无需多次调整照明位置即可完成大区域检测；

• 紧凑型设计：机身结构紧凑，不同型号尺寸适配不同检测场景，兼顾照明性能与设备安装的空间需求。

3. 全系列规格参数

• 型号分类：共推出 7 款型号，分两大电压系列 —— 基础款为 DC12V（含 40D/50D/70D），HV 款为 DC24V（含 40D/50D/70D/100D），覆盖 40/50/70/100 四种核心规格，适配不同检测精度与范围需求；

• 发光颜色：全型号均支持白色、红色、蓝色、绿色四种发光色，可根据被测物材质、检测需求灵活选择；

• 外形尺寸：同规格的 12V/24V 型号尺寸一致，尺寸随规格数字递增同步扩大，宽度从 50mm 到 110mm、奥行从 77mm 到 137mm、高度从 45mm 到 105mm，标准化设计便于设备配套安装。

4. 核心适用场景：广泛适用于各类工业精密检测与尺寸测量，包括高反光工件表面微划痕检测、印字 / 文字识别检测、电路板基板图案检测、连接器插针间距测量等，是工业自动化视觉检测的核心配套照明产品。