日本leimac狭角配光伪同轴落射照明缺陷检查

日本leimac狭角配光伪同轴落射照明缺陷检查

日本leimac狭角配光伪同轴落射照明缺陷检查

1. 产品核心定位：采用改良半反射镜技术的狭角配光疑似同轴落射照明，在紧凑机身上实现高照度、高发光均一性，且光轴与相机轴同向，是针对超精密工业视觉检测的专用照明产品，为 IFVA 系列的升级款，核心优化了解像力表现。

2. 核心产品优势

• 高解像力：改良了所采用的半反射镜，相较旧款 IFVA 系列解像力大幅提升，能清晰捕捉被测物的细微细节，适配超精密检测需求；

• 狭角配光 + 同轴照射：采用狭角配光设计，结合半反射镜实现相机轴同向的同轴照射，光线聚焦性更强，正反射成像效果优异；

• 适配精密正反射检测：可通过正反射完成检测，对工件表面微划痕、印字 / 文字的识别检测效果突出，能满足超高精度的细节检测要求；

• 紧凑化设计：兼顾高照度、高均一性的同时保持机身紧凑，占用空间小，适配各类工业检测设备的配套安装。

3. 全系列规格参数

• 型号分类：共推出 4 款型号，分两大电压系列 ——DC12V 基础款（IFVB-20/30）、DC24V HV 款（IFVB-20_HV/30_HV），覆盖 20/30 两种核心规格，适配不同精密检测场景；

• 发光颜色：20 规格型号支持白色、红色、蓝色、绿色四种发光色，30 规格型号支持白、红、蓝三色，可根据被测物材质、检测需求灵活选择；

• 外形尺寸：同规格的 12V/24V 型号尺寸一致，IFVB-20 系列为 28mm/60mm/23.5mm，IFVB-30 系列为 40mm/70mm/36mm，整体尺寸小巧，适配紧凑安装空间。

4. 核心适用场景：广泛适用于各类超精密工业检测与尺寸测量，包括高反光工件表面微划痕检测、精细印字 / 文字识别、电路板精细图案检测、连接器插针微小间距测量等对细节捕捉要求高的场景。