光学检查设备轴承测量投影仪偏光测量仪

一、产品概述

二、产品特点

1. 彩色图像处理・测量自动化

2. 数据与图像记录简单便捷

3. 玻璃畸变敏感色版观察

4. SF-Ⅱ Assist 选配测量辅助系统（高效升级）

• 单次最多可处理 10 点测量，处理速度大幅缩短，满足批量检测的效率需求；

• 自动保存测量数据，避免人工记录遗漏或错误；

• 自动生成测试报告，报告可在 Word 中直接编辑，便于客户提交、归档与认证；

• 注：SF-Ⅱ Assist 不含 SF-Ⅱ 主机；除软件外，需另配 CCD 相机、拍摄镜头及电脑。

三、技术规格

• 测定方法：塞纳尔蒙法

• 测定精度：1.6 nm（双折射率）

• 测定范围：一次干涉内 590 nm

• 测定视场：Φ40 mm

• 相机视场：2 倍、4 倍微距规格

• 光源配置：

• SF-ⅡC：15V 150W 卤素灯，适合对光强要求较高的检测场景；

• SF-ⅡL：24V 48W LED 光源，能耗更低、寿命更长，适配无尘室等对环境要求严格的场景。

四、适用领域

• 光学玻璃 / 光学镜片 / 镜头组件应力检测，确保光学成像精度；

• 汽车玻璃、建筑钢化玻璃畸变测量，保障玻璃强度与安全性；

• 透明树脂、PMMA、PC、PET 等塑料材料应力分析，优化成型工艺；

• 半导体 / 光学盖板玻璃、石英材料品质检测，提升器件可靠性；

• 工厂生产线质检、实验室研发、来料检验、出货检测等全流程品质管控。

五、产品优势

1. 日本原装高精度光学系统：核心部件源自日本神港精机，测量稳定可靠，长期使用精度无漂移；

2. 自动化测量：降低人为误差，提升检测效率，减少人工成本；

3. 数据管理便捷：支持数据 / 图像保存与报告自动生成，满足合规与追溯需求；

4. 模块化扩展：可通过选配 SF-Ⅱ Assist 实现高效多点测量，适配不同生产规模；

5. 多场景适配：结构紧凑、设计耐用，适用于无尘室、实验室、生产线等多种工作环境。