透明部件畸变与薄膜相位差不均匀性评估仪器

透明部件畸变与薄膜相位差不均匀性评估仪器 透明部件畸变与薄膜相位差不均匀性评估仪器

1. 产品定位与核心价值

2. 核心技术优势

• 全尺寸适配：产品矩阵覆盖从显微镜级微观样品到约 50cm 大尺寸工件，满足不同场景的测量需求。

• PA 系列（低相位差场景）：面向 0~130nm 低相位差测量，搭载 500 万像素高分辨率成像，可高速、高精度测量复折射率 / 位相差分布，适配玻璃制品、镜头等位相差较小的测量对象。

• WPA 系列（高相位差场景）：采用三波长测量技术，将位相差测量范围拓展至 0~3500nm，专门针对位相差较大的透明树脂制品，解决高相位差样品的精准测量难题。

• 非接触式无损检测：无需破坏样品，即可完成相位差、畸变、复折射率分布的全方面评估，保障样品完整性。

• 高分辨率成像：500 万像素成像系统，精准捕捉微观相位差不均匀性，定位微小缺陷与应力分布。

3. 核心参数对比表

4. 适用场景

• 光学元件制造：玻璃镜片、镜头、光学薄膜的相位差、畸变、应力分布检测，保障光学性能。

• 透明树脂行业：透明树脂制品的高相位差测量，质控产品成型质量与内部应力。

• 材料研发：透明材料、薄膜的复折射率、相位差分布研究，助力新材料研发。

• 工业质控：透明部件的在线 / 离线全检，识别相位差不均匀性与畸变缺陷。