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  • TOMOS-50R1FLOVEL  环形照明低倍率双面光学显微镜系统

    FLOVEL 环形照明低倍率双面光学显微镜系统日本 FLOVEL TOMOS-50R1 双面显微镜系统,搭载正位 + 倒立双镜筒、200 万像素彩色 / 黑白双相机,环形 LED 同轴照明,支持 1 倍视野下双面广角拍摄,±10mm XY 平台,30mm Z 行程,USB3.0 输出,Windows11 系统,可同步观测正反两面,适配电子元件、PCB、LED 等工件的位置偏移、划伤检测,是电子制

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    2026-04-09

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  • Mimic Ⅱ-AF/CLFLOVEL  高速光学显微镜自动对焦单元

    日本 FLOVEL Mimic Ⅱ-AF/CL 高速自动对焦单元,采用图像对比度方式,实现高精度、高重复度自动对焦,无需 PC 即可独立运行,兼容多品牌工业相机,内置 5 相步进驱动,支持 Camera Link 直连、千兆以太网通信,适配显微镜、工业视觉系统,一键操作,30 种自定义模式,是手动对焦自动化升级的核心单元。FLOVEL 高速光学显微镜自动对焦单元

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    2026-04-09

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  • FS-1700IRPFLOVEL  高灵敏度近红外 SWIR 工业相机仪器

    FLOVEL 高灵敏度近红外 SWIR 工业相机仪器日本 FLOVEL FS-1700IRP 近红外工业相机,400~1700nm 宽光谱覆盖,1/2 英寸制冷 InGaAs 传感器,134 万像素,贝尔切冷却技术抑制噪点,图像锐化增强,71/134FPS 高帧率,C 卡口适配,DC12V 供电,适配半导体晶圆检测、太阳能 EL 检测、食品异物检测等多场景,是 SWIR 视觉检测方案。

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    2026-04-09

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  • TOMOS-80XYFLOVEL  电动 XY 载物台双面光学显微镜

    FLOVEL 电动 XY 载物台双面光学显微镜日本 FLOVEL TOMOS-80XY 双面显微镜系统,搭载 8 英寸电动 XY 载物台(200×200mm 行程)与自动对焦,双镜筒双摄像头同步观测正反两面,支持表里尺寸 / 位置偏差测量、落射 / 透射照明,适配半导体、MEMS、水晶振子等精密器件的双面检测,320 万像素成像,Windows11 系统,全自动测量无人员差异

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    2026-04-09

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  • ACH800HDMI3-USB日本 ACH2 技术 4K HDMI 工业光学相机

    日本 ACH2 技术 4K 工业相机,3840×2160 超高清分辨率,HDMI/USB3.0 双输出,无需 PC 即可独立测量,支持 4K/2K 录制、15 倍数码变焦,1/1.2 英寸大传感器,88dB 宽动态,适配 FA 检测、显微镜观测、教育科研,标配测量软件与全配件,是机器视觉低成本高性价比之选。日本 ACH2 技术 4K HDMI 工业光学相机

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    2026-04-09

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  • KOBRA-HB 系列王子计测机器 OSI  位相差测定装置仪器

    王子计测机器 OSI 位相差测定装置仪器日本王子计测 OSI KOBRA-HB 系列位相差测定装置,覆盖 2nm~20000nm 超宽位相差量程,采用平行尼科尔回转法等多种检测方式,LED 光源免维护,兼容 KOBRA-W 系列夹具,大开口设计易操作,紧凑机身适配实验室,用于薄膜、光学材料的位相差、配向角高精度检测。

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    2026-04-02

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  • PA 、WPA 系列透明部件畸变与薄膜相位差不均匀性评估仪器

    透明部件畸变与薄膜相位差不均匀性评估仪器日本 Photonic Lattice PA/WPA 系列位相差测量系统,可精准评估透明部件畸变与薄膜相位差不均匀性,覆盖显微镜尺寸至约 50cm 大尺寸样品。PA 系列 0~130nm 低相位差高速高分辨率测量,适配玻璃 / 镜头;WPA 系列三波长技术拓展至 0~3500nm,适配高相位差透明树脂,全场景覆盖光学元件质控需求。

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    2026-04-02

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    33

  • 双 PEM美国 HINDS 研究级斯托克斯偏振仪器

    美国 HINDS 研究级斯托克斯偏振仪器 HINDS INSTRUMENTS 双 PEM 研究级斯托克斯偏振仪,无活动部件设计,单次测量即可获取全部 4 个归一化斯托克斯矢量,最高 0.5% 参数精度、0.0005 灵敏度,覆盖紫外 - 近红外全波段,每秒 100 组高速测量,适配光学元件表征、光纤制造、激光质控、天文观测等科研场景。

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    2026-04-02

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