日本 iMeasure SWIR 短波红外图像扫描仪器日本 iMeasure SWIR 短波红外图像扫描仪，采用平板扫描成像方式，搭载基准板校正机构，可实现反射率、透射率二维分布解析。支持多波段 SWIR 光源，有效消除高光素材反光。适用于半导体晶圆评测、样品水分分布可视化、食品异物检测，提供 4 种机型可选，支持透射模式拓展。

HILLAB 光纤耦合纳秒脉冲 DPSSL 激光器HILLAB LPYD-40-F 光纤耦合纳秒脉冲 DPSSL 激光器，具备优异光束质量与高脉冲稳定性，1064nm 最大输出 340mJ，最高重复频率 100Hz。采用光纤输出结构，支持一体化机架集成，适用于激光加工、光谱研究、激光雷达、材料科研等场景。

HILLAB 灯泵浦高功率纳秒脉冲激光器HILLAB LPYL-20 是经济型灯泵浦 Nd:YAG 纳秒脉冲激光器，输出 1064nm/532nm 双波长，10Hz 重复频率，能量稳定性优异。光束质量佳，可选光纤传输，适配材料加工、光谱学、LIDAR、激光冲击强化等科研与工业场景，具备出色连续工作可靠性。

HILLAB 高功率纳秒脉冲 DPSSL 激光器HILLAB LPYD-40 为二极管泵浦 Nd:YAG 高功率纳秒脉冲 DPSSL 激光器，最高 100Hz 重复频率，1064nm 最大 400mJ、532nm 可达 200mJ。脉冲稳定性优异，采用防尘防潮密封结构，超长二极管使用寿命，适配半导体制造、LIBS 分析、PIV 实验、精密微加工等工业与科研场景。

HILLAB 灯泵浦 Nd:YAG 高能量纳秒激光器HILLAB LPYD-80 为灯泵浦 Nd:YAG 高能量纳秒激光器，1064nm 最大输出能量 8000mJ，10Hz 重复频率，脉冲稳定性优异。搭载热双折射补偿结构，光束质量稳定，适用于激光冲击强化、半导体退火、高功率工业加工，满足科研与工业场景使用需求。

日本 PaPaLaB 二维全域色差外观检测仪器日本 PaPaLaB 原装 PPLB-240 二维色彩计，搭载模拟人眼 LMS 感光滤镜，全域面状一次性测色，数秒完成色彩色差检测。可图像 + 数值双重存储导出 CSV，复刻人眼视觉感受，量化感官色差不适，精度稳定，广泛用于各行业外观色彩品质管控。

日本 Santec 长景深1310nm光学断层测定器Santec IVS-2000-LC 是 1310nm 长成像型 SS-OCT 光学断层测定器，空气中成像深度可达 18mm 以上，适配带有高低落差的复杂器件一站式 3D 测量；1310nm 波段可穿透强散射材质，非接触无损获取内部分层与三维轮廓，专为手机复合镜头、厚层复合材料、凹凸精密零部件深度质检开发，可配套显微成像工作站使用。

日本 Santec 高速1310nm光学断层测定器Santec IVS-2000-HS 是 1310nm 高速型 SS-OCT 光学断层测定器，100kHz 超高扫描速率，大幅缩短产线单次检测耗时；红外波段易穿透强散射工件，非接触无损成像，适配工业自动化在线质检场景，可完成器件微结构成像、多层薄膜厚度测量、内部缺陷实时筛查，可配套高速扫描激光模组搭建一体化在线检测工作站。