日本 YAMADEN 简易质构仪电脑数据分析系统TA-TPU2 是适配 TPU-2D/2DL 简易质构仪的专用电脑分析系统，基于 Windows 系统运行，可自动采集硬度、压缩强度原始波形，支持坐标自定义、数据放大查看、NO-GO 合格判定，原始数据与解析报表一键导出 Excel/Word，自带在线帮助，适配食品、日化实验室批量质检数据处理。

日本 YAMADEN 质构数据解析系统YAMADEN 配套 CA-3305 电脑分析系统，适配全系列蠕变质构仪，全新 Windows 操作界面，兼容旧版 DOS 数据迁移，支持多模式波形绘图、数据统计、批量导出，可对接办公软件，适配食品物性、蠕变、断裂强度试验全自动解析，操作直观，数据输出便捷。

日本 Pearl 透射式光轴偏心测量仪日本 Pearl 帕尔光学 CM-100α 透射式透镜偏心测量仪，专测凹凸 / 胶合透镜光轴偏心角度；搭载导航图表快速定心，刻度直读无需换算，10/20 秒双精度档位，适配 φ10-50mm、±3mm~ 无穷远各类镜头，7 寸黑白 CCD 成像，轻量化台式结构，是光学透镜同轴度精密检测专用设备。

日本 Pearl 焦平面检测平行多向准直仪日本 Pearl 珍珠光学 MVC-320 多向视频准直仪，320mm 焦距 φ65mm 通光口径，支持无穷远与 0.3m 有限距离双光路，配套缝隙测试标板，配合视频监视器完成摄像机、数码镜头焦平面高精度检测，机身紧凑 20kg，用于镜头组装、出厂质检与维修调校。

日本 Pearl 镜头检测平行光管准直仪器日本 Pearl 珍珠光学 CL 系列平行光准直仪，4 款焦距规格可选，输出标准无穷远平行光束，搭载 6V30W 钨丝光源与绿色滤光片，支持星点 / 针孔 / 西门子星可换标板，用于工业镜头焦距、像差、无穷远对焦高精度检测，适配光学实验室研发与镜头量产产线质检。

日本 Takano 高野 半导体数字全息检测仪器日本 Takano 高野数字全息检测机，依托数字全息成像技术，单次拍摄同步检出透明材料内部、正反面缺陷；5μm 高分辨率、±10mm 超大景深免对焦，支持线阵 / 面阵双机型，可稳定检测 10μm 以上气泡、脉纹、划痕、异物，适配光学镜片、滤光片、盖板玻璃、透明半导体晶圆量产自动化质检。

日本 Takano 高野 导电薄膜视觉检查仪器日本 Takano 高野 HAWKEYES PATTERN 卷对卷图案薄膜检测设备，自研 5μm 高精度成像相机，10m/min 稳定检测 30μm 精细线路；内置偏移补偿算法，可识别短路、断线、针孔、凸起异物等图案缺陷，兼容触摸屏、FPC、MLCC 卷材与单片试样，满足电子图案薄膜量产全流程品质管控。

日本 Takano 高野 偏光膜在线瑕疵扫描仪器日本 Takano 高野 HAWKEYES ONE 超高速薄膜外观检测装置，自研线阵相机最高 200m/min 产线适配，5μm 微米级精度识别针孔、姆拉、条纹、气泡等涂布缺陷；搭载 AI 自动分类算法，配套完整缺陷数据追溯软件，适配光学、锂电、电子各类卷材薄膜，实现高速产线全幅品质自动化管控。