日本 HORIBA 堀场 全自动晶圆薄膜量测系统HORIBA Xtrology 是高度可定制化全自动晶圆薄膜量测平台，可集成椭圆偏振、拉曼、光致发光三类光学传感器，单台设备完成薄膜厚度、光学参数、结晶度、材料成分、缺陷与应力检测。兼容 FOUP/SMIF 自动化晶圆传输，适配硅基与化合物半导体先进制程，搭载全套自研软硬件。

日本 YAMADEN 简易质构仪电脑数据分析系统TA-TPU2 是适配 TPU-2D/2DL 简易质构仪的专用电脑分析系统，基于 Windows 系统运行，可自动采集硬度、压缩强度原始波形，支持坐标自定义、数据放大查看、NO-GO 合格判定，原始数据与解析报表一键导出 Excel/Word，自带在线帮助，适配食品、日化实验室批量质检数据处理。

日本 YAMADEN 质构数据解析系统YAMADEN 配套 CA-3305 电脑分析系统，适配全系列蠕变质构仪，全新 Windows 操作界面，兼容旧版 DOS 数据迁移，支持多模式波形绘图、数据统计、批量导出，可对接办公软件，适配食品物性、蠕变、断裂强度试验全自动解析，操作直观，数据输出便捷。

日本Pearl图像处理系统检查偏心量测量设备 IPS-6000 新开发的图像处理系统可以清晰地显示模糊且难以看清的透明十字图像。当镜头旋转时，自动捕捉轨迹，并使用最小二乘法以数字方式显示偏心量。