





FLOVEL 环形照明低倍率双面光学显微镜系统日本 FLOVEL TOMOS-50R1 双面显微镜系统,搭载正位 + 倒立双镜筒、200 万像素彩色 / 黑白双相机,环形 LED 同轴照明,支持 1 倍视野下双面广角拍摄,±10mm XY 平台,30mm Z 行程,USB3.0 输出,Windows11 系统,可同步观测正反两面,适配电子元件、PCB、LED 等工件的位置偏移、划伤检测,是电子制
产品型号:TOMOS-50R1
厂商性质:经销商
更新时间:2026-04-09
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FLOVEL 环形照明低倍率双面光学显微镜系统 FLOVEL 环形照明低倍率双面光学显微镜系统
双镜筒双光路设计:正位 + 倒立双 0.5 倍镜筒,搭配 2 倍物镜,实现 1 倍拍摄视野下的双面广角同步拍摄,一次装夹完成正反两面全检测,无需翻转工件。
高清晰成像:2 个 200 万像素相机(彩色 / 黑白可选),细节还原精准,彩色模式适配外观缺陷、划伤检测,黑白模式适配高精度尺寸测量。
环形同轴照明系统:2 组白色 LED 环形 / 同轴聚光灯,消除工件表面阴影与反光,确保明暗均匀,清晰呈现微小划伤、印刷标记等细节。
大行程调节:Z 轴最大 30mm 粗微调行程,适配不同高度工件;±10mm XY 平台移动范围,可灵活调整观测位置,适配多规格工件。
便捷数据传输:USB3.0 高速接口,直连电脑,数据传输稳定,适配自动化检测流程。
一体化控制系统:搭载 Windows11 Pro 系统,竖屏液晶显示器正反双画面同步显示,操作直观,支持图像归档、测量分析。
正反面位置偏移测量:自动检测 PCB、印刷品、LED 芯片、透镜等工件的对位标记、通孔的正反面位置偏差,生成合成图像,量化偏移量。
正反面同时观察与划伤检测:同步观测电容、电阻、连接器、镜头等电子元件的正反两面,识别划痕、印刷不良、外观缺陷,实现全检无遗漏。