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日本EMIC 光学便携式LED黑光灯

日本EMIC 光学便携式LED黑光灯日本 EMIC LB-104 便携式 LED 黑光灯,专为磁粉探伤设计,采用 355~375nm 紫外 LED,功耗仅为传统产品的 1/7,中心强度高,可检测微小伤痕;支持 AC100-240V 供电,手持轻便,适配各类无损检测场景。

  • 产品型号:LB-104
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-04-29
  • 访  问  量:14
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详细介绍

日本EMIC 光学便携式LED黑光灯 日本EMIC 光学便携式LED黑光灯

产品概述
LB-104 是日本 EMIC 推出的便携式 LED 黑光灯,专为磁粉探伤、荧光渗透检测设计,采用高效紫外 LED 技术,兼具低功耗、高亮度、轻量化优势,适配各类工业无损检测场景。
核心特点
  • 高效节能设计:功耗仅为传统黑光灯的 1/7,大幅降低使用成本,同时减少发热,提升设备耐用性。

  • 高亮度检测性能:采用 355~375nm 波长 LED,最大中心强度约 13mW/cm²,可清晰检测微小伤痕;在 Φ120mm 照射范围内,照度可达 4000μW/cm² 以上,满足探伤标准要求。

  • 轻量化手持设计:整机重量约 750g,轻便易携,长时间使用不易疲劳;支持 AC100~240V 宽电压供电,即插即用,适配不同工作环境。

  • 适配图像处理探伤:搭载脉冲模式,可优化图像处理式磁粉探伤的成像效果,提升检测精度与效率。

核心参数
表格
项目参数
型号LB-104
电源输入AC 100V~240V 50/60Hz 约 40VA
照度与照射面积4,000μW/cm² 以上(照射距离 400mm/Φ120mm)
重量约 750g
波长范围355~375nm
适配场景磁粉探伤、荧光渗透检测
应用场景
广泛应用于航空航天、汽车制造、机械加工、压力容器等行业的零部件表面缺陷检测,如裂纹、气孔、夹渣等微小缺陷的荧光磁粉 / 渗透探伤作业。



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