日本岛津 光学扫描探针显微镜

产品概述

核心特点

• 高速扫描，大幅提升检测效率

  配备新开发的 HT 高通量扫描仪，表面形貌观察速度比传统机型快 5 倍以上，显著缩短样品分析周期；扫描仪支持轻松更换，可兼容传统型号的扫描头，实现设备性能升级与成本控制的平衡。
• 自动优化，降低操作门槛

  搭载 NanoAssist 自动观察条件优化功能，用户仅需设置观察范围，设备即可自动完成探针参数调整与扫描条件设置，无需依赖操作员经验，实现标准化、可重复的观察结果。
• 纳米级物性映射，高效稳定

  可选配 Fast 纳米 3D 制图功能，相比传统机型大幅缩短物性映射时间，支持对样品表面硬度、弹性模量、电流、电位等多种物性的同时测量，且映射过程更稳定，为材料力学与电学特性分析提供可靠数据。
• 直观的 3D 可视化与高级分析功能

  支持鼠标操作实现图像的旋转、缩放与 Z 轴倍率调整，通过纹理叠加功能将物性信息映射到形貌图像上；内置 3D 截面形状分析工具，可快速获取样品截面尺寸、粗糙度等关键参数，提升数据解读效率。
• 丰富的测量模式与扩展性

  除基础形貌成像外，设备支持多种测量模式，可获取样品表面电流、电位、硬度、粘弹性等物性信息；开放式软件平台支持自定义分析脚本，满足用户个性化研究需求。

适用场景

• 材料科学：聚合物薄膜、纳米材料的表面形貌与力学特性分析

• 半导体行业：晶圆表面粗糙度、缺陷检测及工艺过程监控

• 生物医学：生物大分子、细胞表面形貌观察与生物力学研究

• 涂层与薄膜：涂层厚度、均匀性及界面结构表征