热门搜索:日本物性测试仪、石川擂溃机、水泥水分计、脱气消泡罐、粉体硬度计、日本食感试验机

产品展示/ Product display

您的位置:首页  /  产品展示  /    /  仪器设备  /  SE-2108日本 OmniPhysics 分析用手动探针设备

日本 OmniPhysics 分析用手动探针设备

日本 OmniPhysics 分析用手动探针设备日本 OmniPhysics SE-2108 是一款分析用手动探针装置,专为半导体器件分析测试设计,可外接温控装置实现 - 40℃~250℃高低温测试,支持 8 台机械手安装,兼容激光装置与多种配件,是精密电学分析的专业设备。

  • 产品型号:SE-2108
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-05-21
  • 访  问  量:14
立即咨询

联系电话:13823182047

详细介绍

日本 OmniPhysics 分析用手动探针设备 日本 OmniPhysics 分析用手动探针设备

产品概述
OmniPhysics SE-2108 分析用手动探针装置,专为半导体器件的精密电学分析与高低温测试场景设计。设备配备屏蔽腔,支持载物台与机械手外部操作,可外接温控装置实现宽温域测试,同时兼容多种配件扩展,为复杂测试需求提供灵活解决方案。
核心技术参数
参数项规格
X-Y 平台移动量X 轴:205mm、Y 轴:205mm
样品台旋转粗调:180°,微调:10°
探针载台 Z 轴移动量10mm
探针载体上下行程接触~分离:300μm
显微镜移动范围X/Y 均为 25mm;UP/DOWN 移动量:200mm
机械手搭载数最大 8 台
互锁机构气动互锁
防震机构标准配置
核心特点
  • 屏蔽腔外部操作设计,提升测试便利性
    屏蔽腔内的载物台和机械手可通过外部操作,避免频繁开启腔室影响测试环境,同时减少外界干扰,保障测试数据稳定性。
  • 宽温域测试支持,适配高低温工况
    可与 FT-3300 热电夹具温度控制装置连接,实现 - 40℃至 250℃的宽温域测试,满足半导体器件高低温电学特性分析需求。
  • 高扩展性配置,满足复杂测试场景
    机械手最大安装数量为 8 台,可同时进行多探针测试;兼容 YAG 激光装置安装,适配激光诱导相关测试,为多维度分析提供支持。
  • 丰富配件生态,灵活适配不同需求
    支持三丰显微镜、HOYA 激光装置、8 英寸夹头、多种探针头 / 适配器及温控器等配件,可根据测试需求灵活搭配,提升设备通用性。
适用场景
  • 半导体器件分析:高低温电学特性测试、器件失效分析、工艺验证

  • 材料研究:半导体材料温变特性表征、激光诱导电学测试

  • 精密测试实验室:多探针同步测试、复杂工况下的器件性能评估

留言询价

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
扫码加微信

邮箱:akiyama_zhou@163.com

传真:

地址:广东省深圳市龙岗区龙岗街道新生社区新旺路8号和健云谷2栋10层1002

Copyright © 2026 深圳秋山工业设备有限公司版权所有   备案号:粤ICP备2024238191号   技术支持:化工仪器网

TEL:13823182047

扫码加微信