日本 Luceo 光学晶体玻璃条纹缺陷检测仪

日本 Luceo 光学晶体玻璃条纹缺陷检测仪 日本 Luceo 光学晶体玻璃条纹缺陷检测仪

核心规格参数

表格

项目参数详情

检测原理阴影绘图法（シャドウグラフ法）

有效观察范围φ45mm

光源类型高亮度蓝色 LED

测量波长450~465nm

成像像素1080 (水平)×824 (垂直)

调光方式无级调光

主机尺寸横置标准：W1030×D160×H205mm

竖置选配：W380×D455×H1245mm

整机重量29kg

标准配置设备主机、配套 PC、连接线缆、样品台、防尘盖

可选配件立式支架（自重 10kg）

使用环境10~35℃，湿度 20%~80% 无结露

适配系统Windows10 64 位，支持 24 寸 1920×1200 显示器

四大核心优势

阴影法直观可视化内部脉理缺陷

平行光成像，可直接在显示器呈现透明材料内部条纹、光学不均匀、研磨划痕，缺陷成像清晰，肉眼快速判定，无需复杂换算。

蓝色 LED 专用光源，适配光学滤波元件

450~465nm 蓝光波段，针对低通滤波晶体、蓝滤光片、液晶偏光板优化，精准捕捉可见光设备难以识别的细微脉理。

两种安装形态，适配不同产线实验室

标准卧式节省台面空间；选配立式支架适配流水线、立式工装检测场景，灵活兼容产线与研发实验室。

高清成像 + 无级调光，检测兼容性强

百万级成像像素，明暗无级可调；可检测水晶、光学玻璃、亚克力透明基材，覆盖来料、研磨后成品全流程质检。

适用检测场景

光学元件行业：低通滤波晶体、蓝滤光片、红外光学基板内部条纹检测

液晶显示行业：偏光板、透光液晶基板脉理、表面研磨不均排查

玻璃加工行业：光学玻璃毛坯、抛光件研磨划痕、内部材质不均检测

研发实验室：透明光学新材料内部光学均匀性评估、试样对比分析