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日本 NAPSON 便携式片电阻测量仪器日本 NAPSON DUORES 手持式方块电阻测试仪,搭载涡流无损、四探针接触双探头,兼顾无损产线检测与宽量程高精度测量;整机便携长续航,可测 ITO、Low-E 玻璃、石墨烯等导电薄膜,支持数据存储导出,是薄膜导电性能现场快速检测专用设备。
产品型号:DUORES
厂商性质:经销商
更新时间:2026-06-25
访 问 量:18
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日本 NAPSON 便携式片电阻测量仪器 日本 NAPSON 便携式片电阻测量仪器
1. 产品概述
可更换双探头手持式方块电阻测量设备,一台主机搭配涡流无损探头与四探针接触式探头,兼顾非破坏检测与宽量程高精度测量;整机便携手持设计,内置电池续航 24 小时,适配产线现场、实验室快速抽检各类导电薄膜。
2. 两种探头核心参数对比
表格
项目涡流无损探头(非接触)四探针接触探头(接触式)
测量光斑 / 针距φ25mm 光斑9mm 总宽,针间距 3mm
方块电阻量程0.5~200Ω/sq0.001~4000Ω/sq
测量特性不损伤样品,适合成品全检量程极宽,适配高 / 低阻薄膜
3. 整机物理尺寸与重量
手持主机:W100×D32×H210mm,约 350g(不含电池)
无损涡流探头:70×20×70mm,约 170g
四探针接触探头:40×15×50mm,约 85g
4. 核心硬件功能
一键单点自动测量,放置探头即可读数;
屏幕 3 种单位切换:Ω/□、S/□、n/m(金属膜厚度换算),4 位浮点显示;
本地缓存:面板即时显示 100 组数据,配套软件可存储 50000 组;
Mini-USB 数据导出,可对接电脑专用分析软件;
续航:内置电池连续工作 24 小时;
销售套组可选:主机 + 无损探头 / 主机 + 接触探头 / 全套双探头。
四、五大核心产品优势
1. 一机双测,无损 + 高精度兼顾
业内手持双探头机型,涡流探头不划伤成品薄膜用于产线巡检;四探针超宽量程适配研发高低阻样品,无需购置两台设备。
2. 超便携手持机身,现场快速检测
整机轻量化,单手可握持,电池供电无需外接电源,可直接带到镀膜产线、来料仓、实验室快速抽检。
3. 超长续航,全天不间断检测
电池模式连续运行 24 小时,满足工厂全天批量抽检需求,无需频繁充电。
4. 大容量数据存储,便于品质追溯
本地临时缓存 + 电脑端海量存储,导出数据用于批次品质记录、工艺曲线分析。
5. 适配全品类导电薄膜,应用覆盖面广
兼容 ITO、TCO、低辐射玻璃、石墨烯、碳纳米管、金属纳米线网格等各类导电涂层。
五、适用测量样品与行业
测量样品
ITO 导电膜、TCO 薄膜、Low-E 低辐射玻璃、石墨烯、碳纳米管导电涂层、金属纳米线 / 金属栅格薄膜、各类玻璃基底导电镀层。
应用行业
液晶显示、触控面板、光伏玻璃、建筑节能玻璃、柔性电子、新材料实验室、光学镀膜加工厂。