日本 Takano 高野 液晶面板膜厚检测装置

日本 Takano 高野 液晶面板膜厚检测装置 日本 Takano 高野 液晶面板膜厚检测装置

1. 产品概述

本设备专为 LCD 液晶面板产线打造，替代人工目检，搭载线性线阵相机，搭配透射 / 反射双模式 LED 照明，全自动识别 CF 彩色滤光、TFT 旋涂工序树脂涂层 ** 姆拉（膜厚不均）** 缺陷；适配 2200×2500mm 大尺寸基板，30 秒内完成单张全幅扫描，可对户现有输送流水线改造，稳定检出 1mm 以上膜层厚薄异常，覆盖 OC 膜、PI 膜各类树脂涂层制程。

2. 整机完整规格参数

表格

项目参数详情

拍摄成像线性感测线阵摄像头

照明模式透射照明 / 反射照明双模式切换

光源系统定制 LED 光源，搭配对应工序专用光学滤光片

输送对接流水线输送，可改造适配客户现有产线

缺陷检出能力≥1mm 膜厚不均姆拉缺陷

检测节拍≤30 秒 / 张（2200×2500mm 大基板）

3. 两大核心产品特长

全制程覆盖姆拉自动化检测

适配 CF 彩色滤光、TFT 旋涂、各类树脂涂层全工序，全程自动扫描，替代人工目视检测，降低人力漏检。

全类型膜层缺陷稳定检出

可识别 OC 膜不均、PI 膜不均、各类树脂涂层厚薄条纹、块状色差等姆拉不良，兼容多种成因的膜层缺陷。

4. 可检测工序与缺陷类型

适用制程

CF 彩色滤光片 注册姆拉缺陷检测

TFT 基板旋涂工艺膜厚不均检测

全段树脂涂层薄膜外观检测

典型缺陷

OC 膜层厚薄不均、PI 膜层涂布不均、树脂涂层条纹、块状色差、局部薄厚异常

五、适用行业客户

LCD 液晶面板厂、OLED 显示面板工厂、CF 彩色滤光片制造企业、TFT 基板代工企业、显示材料涂布产线厂商

六、缺陷成像检测效果

设备输出清晰面板灰度成像，直观区分 OC 膜、PI 膜局部厚薄凸起 / 凹陷，标记块状、条状膜层不均区域，自动分类不良类型，同步记录缺陷坐标用于产线追溯。