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日本 Takano 高野 偏光膜视觉在线检测设备日本 Takano 高野 HAWKEYES ELITE 无基材薄膜检测装置,搭载自研高速线阵相机,支持卷对卷 / 单张双模式产线;最高 200m/min 检测速度,微米级精度识别针孔、姆拉、条纹、划伤等涂布缺陷,适配光学、锂电、电子各类薄膜,配套完整缺陷统计追溯软件,可定制功能适配各类涂布产线。
产品型号:HAWKEYES ELITE
厂商性质:经销商
更新时间:2026-06-26
访 问 量:18
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日本 Takano 高野 偏光膜视觉在线检测设备 日本 Takano 高野 偏光膜视觉在线检测设备
1. 产品概述
HAWKEYES ELITE 是 Takano 自研高速线阵相机薄膜全幅检测系统,专为无基材各类薄膜产线打造,支持卷对卷连续产线、离线单张基板两种机型配置;最高 200m/min 高速走膜,最高 40μm 检测分辨率,搭载多通道并行图像处理算法,一次性识别薄膜全品类微米级涂布缺陷,适配光学、电子、能源、基材全品类薄膜,配套完整缺陷数据追溯统计软件,支持功能定制开发。
2. 硬件整机规格
表格
硬件项目参数详情
有效像素线阵相机8000 像素 / 16000 像素双规格可选
控制统计工控机FA 工业规格 PC
产线走速档位100m/min(20μm 分辨率)、200m/min(40μm 分辨率)
成像光学自研工业镜头匹配专用透射 / 反射光源
3. 配套软件功能
缺陷检测处理:缺陷判定、噪声抑制、空间滤波、缺陷 Map 可视化
数据追溯查看:缺陷坐标清单、缺陷原图存储、不良趋势分析、批量统计报表
定制拓展:界面 UI 调整、新增检测算法、产线对接交互功能定制
4. 可检出全品类薄膜缺陷
穴类缺陷:涂布凹坑、针孔
涂布条纹缺陷:涂布横纹、辊印条纹、褶皱
凹凸异物缺陷:表面脏污、划伤、气泡、颗粒凸起
姆拉膜厚不均缺陷:涂布厚薄姆拉、刮痕色差
最小可稳定检出 5μm 细微瑕疵,全幅无漏检。
5. 四大适用薄膜品类
光学薄膜
偏光膜、扩散膜、相位膜、防反射膜、TAC/PET 基材膜
电子元件薄膜
MLCC 离型膜、CCL/FCCL 基材、DFR 干膜、绝缘膜、粘接膜
新能源薄膜
锂电池隔膜、铜铝金属箔
通用树脂基材
PET、PI、各类涂布树脂薄膜
6. 两大核心产品特长
灵活产线适配,两种机型方案
卷对卷在线机型适配高速连续涂布产线;离线单张机型适配小样 / 大尺寸基板抽检,一套硬件架构覆盖不同生产模式。
高野原创多算法并行图像处理
多缺陷同步并行运算,无需分段扫描,高速走膜下稳定识别黑点、姆拉、条纹、划伤、凹凸异物等数十种瑕疵,降低误判漏检率。
五、适用行业客户
光学膜材厂、锂电池隔膜制造企业、覆铜板 CCL 厂商、MLCC 离型膜工厂、显示基材涂布企业、柔性电子 PI 膜生产厂家。
六、缺陷成像检测效果
设备同步输出三层图像:原始浓淡灰度图、算法预处理图、缺陷标记判定图;直观标注缺陷位置、尺寸、类型,自动生成缺陷分布图,对接产线剔除机实现不良自动分拣。