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日本 Takano 高野 线扫相机显示面板检测仪日本 Takano 高野高精度显示基板外观检查装置,自研 3μm 分辨率线扫相机与 GFC 缺陷算法,适配 LCD/OLED/ 触控面板基板,可检出图案、异物、针孔、污渍等细微不良;搭载高速自动对焦光学系统,拥有 G10.5 产线成熟实绩,实现显示基板量产全流程自动化品质管控。
产品型号:
厂商性质:经销商
更新时间:2026-06-29
访 问 量:9
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日本 Takano 高野 线扫相机显示面板检测仪 日本 Takano 高野 线扫相机显示面板检测仪
1. 产品概述
本设备是 Takano 面向高世代显示产线推出的高精度显示基板全幅视觉检测设备,适配 LCD、OLED、触控屏各类精细图案基板;搭载自研高分辨率线阵扫描相机、5~50 倍可调自动追踪对焦光学镜头,搭配原创 GFC 缺陷识别算法,稳定检出 3μm 级微小图案、异物、针孔、低对比度污渍缺陷,已落地 G10.5 高世代产线,兼顾卷式 / 单片基板高速量产全检。
2. 硬件整机规格参数
表格
硬件项目规格指标
最高成像分解能3μm / 像素
自研线扫相机规格16000 像素 (560MHz) / 7400 像素 (266MHz) 双型号可选
照明系统高亮 LED 照明 + 工艺定制光学滤光片
输送搭载方案自由滚筒 / 气浮滑块 / 线性电机机架三种可选
光学评价单元5.0~50 倍可调显微镜、高速自动对焦追踪模组
最小稳定检出缺陷3μm 以上各类细微瑕疵
单片检测节拍30 秒 / 张(5μm 检测精度工况)
3. 可检出全品类缺陷清单
图案类缺陷:线路断线、短路、图案形变、缺角、布线偏移
异物颗粒缺陷:表面粉尘、金属碎屑、外来凸起杂质
孔洞缺陷:涂层针孔、蚀刻漏孔、薄膜破洞
低对比度缺陷:表面污渍、弱色差膜层不均(选配污渍检测功能)
4. 三大核心产品特长
01 原创 GFC 缺陷识别算法
图像处理算法,精准捕捉 3μm 超细微缺陷,区分基板固有纹理与真实不良,大幅降低误检率,适配显示面板复杂细微线路图案。
02 高速稳定一体化光学成像系统
自研高帧率线扫相机 + 高精度专用检测镜头,搭配动态自动对焦追踪单元,高速走板过程持续清晰成像,保障量产长时间稳定检测。
03 高世代产线成熟落地实绩
具备 G10.5 大尺寸显示基板产线批量应用案例,适配大尺寸 LCD/OLED/Touch 基板量产质检场景。
5. 选配拓展功能
污渍检测功能:识别低对比度污渍、弱色差类难检出缺陷
高速图像传输模块:检测同步实时上传缺陷坐标、原图、尺寸数据,对接产线 MES 系统
6. 适配检测基材与下游客户
检测基板品类
LCD 液晶面板(彩色滤光片、TFT 薄膜晶体管基板)、OLED 有机 EL 显示屏、电容式 / 电阻式触摸屏基板
下游客户群体
G6/G8.5/G10.5 代液晶面板工厂、OLED 柔性屏制造企业、触控面板基板厂商、显示材料研发实验室