日本 Fujikura 超薄锂电隔膜台式测厚仪

日本 Fujikura 超薄锂电隔膜台式测厚仪 日本 Fujikura 超薄锂电隔膜台式测厚仪

1. 产品概述

HKT-Master0.01BB 为富士工旗舰级窄量程超高精度薄膜测厚仪，替代旧款 HKT-1202；采用气动匀速下压机构，消除人工操作力度差异带来的测量偏差，0.01μm 顶级分辨率，支持测试压力自由调节， 0.14N，适配极易形变的超薄软质薄膜；测量量程 200μm，搭配自研触控数显表头，宽幅 AC100~240V 全球通用电压，RS232 数字通讯可对接 PC 软件记录厚度曲线，标配 φ50 耐磨陶瓷台面与 R30 超硬球面测头，面向超薄光学膜、陶瓷锂电隔膜、超薄 PI 柔性基材研发质控。

2. 七大核心产品优势

气动恒定下压结构，测量重复性行业顶尖

气动控制测头匀速下落，不受操作人员手法影响，重复精度高达 0.05μm，线性误差仅 ±0.2%，微小厚度波动均可稳定捕捉。

0.01μm 超高分辨率，适配亚微米级超薄薄膜

最小读数 0.01 微米，可精准分辨 1μm 以下极薄涂层、微孔隔膜、光学超薄基膜的厚度差异，满足新材料研发严苛检测需求。

测试压力可自由调节， 0.14N 不挤压薄膜

支持压力档位调整，低压模式测量软性薄膜不会压薄试样，还原基材原始真实厚度，杜绝压力形变造成的数据失真。

200μm 窄量程设计，聚焦超薄材料精准检测

量程 0~200μm，针对超薄薄膜专项优化，相比宽量程机型精度、稳定性进一步提升，不兼容厚片，专注超薄材料检测。

宽电压全球通用供电，实验室稳定连续运行

AC100V~240V 宽电压自适应，国内市电直接使用，无需变压器，可全天候不间断批量试样检测。

耐磨陶瓷工作台 + R30 超硬球面测头

φ50mm 陶瓷测量底座耐腐蚀、耐刮擦；球面超硬测头长期高频测量无磨损，不划伤薄膜样品表面。

RS232 数据输出，完整数据追溯拓展

标配 RS232C 数字接口，搭配专用 PC 软件自动采集、存储、导出厚度数据；可选配替换测头、手动泵拓展使用场景。

3. 完整规格参数

表格

项目规格参数说明

测量分辨率0.01μm超高精密读数

重复精度0.05μm多次测量波动≤0.05μm

线性度±0.2%全量程线性误差控制

测试压力可调， 0.14N适配各类软质超薄薄膜

测量范围0~200μm窄量程，专注超薄基材检测

测头规格R30 超硬球面耐磨、无试样压痕

测量工作台φ50mm 陶瓷台面高平整度、耐腐蚀

数据输出RS232C 数字通讯对接电脑采集厚度曲线

供电电源AC100V~240V宽电压全球通用

型号沿革新型号 HKT-Master0.01BB，旧型号 HKT-1202软硬件升级，精度提升

可选配件专用 PC 数据软件、替换式测头、手动泵按需拓展数据采集、配件更换

4. 典型应用场景

锂电池材料：超薄陶瓷隔膜、超薄涂层铝塑膜、极片涂层研发精密厚度检测

光学薄膜行业：超薄偏光片、纳米涂层光学 PET、防反射超薄基材质控

柔性电子：超薄 PI 膜、柔性导电涂层、超薄柔性基底小样测试

高分子新材料：微孔超薄薄膜、纳米功能性涂层、超薄复合膜研发对比

精密实验室：各类 1μm 以下超薄软膜、易形变薄膜高精度厚度标定