日本富士工 Fujikura 实验室紧凑型测厚仪

日本富士工 Fujikura 实验室紧凑型测厚仪 日本富士工 Fujikura 实验室紧凑型测厚仪

1. 产品概述

HKT-Master0.1BB 为富士工紧凑型通用型薄膜测厚仪，替代旧款 HKT-1200；采用气动恒定速度下压机构，消除操作人员手法差异带来的测量偏差，0.1μm 标准分辨率，量程 0~500μm 覆盖绝大多数薄膜材料；支持双供电模式，AC100~240V 宽电压市电长期实验室使用，也可安装 5 节 5 号充电电池脱离电源现场巡检；测试压力可自由调节， 0.14N 低压适配软性超薄薄膜，配备自研触控数显表头，RS232 通讯对接 PC 软件存储厚度数据，标配 φ50 耐磨陶瓷工作台与 R30 超硬球面测头，兼顾实验室常规检测与产线移动抽检。

2. 七大核心产品优势

气动匀速下压结构，数据重复性稳定

气动控制测头匀速下落，不受人为操作力度影响，重复精度 0.2μm，线性误差仅 ±0.2%，同一样品多次测量数值波动极小。

0.1μm 标准分辨率，通用薄膜全覆盖

最小读数 0.1 微米，适配常规光学膜、锂电隔膜、塑胶包装膜、复合薄片等绝大多数工业薄膜，兼顾精度与通用性。

双供电设计，实验室 / 现场两用

两种供电方式：AC100~240V 全球市电适配，可全天候连续测试；5 节 5 号充电电池供电，无插座车间、仓库、户外均可便携检测。

测试压力可调， 0.14N 不挤压软膜

压力档位自由切换，低压模式测量超薄、高柔性薄膜不会压薄试样，还原基材原始真实厚度，避免形变造成测量失真。

500μm 宽量程，厚薄薄膜通用检测

0~500μm 大量程，超薄涂层到数百微米厚复合膜均可测量，无需更换机型，适配多品类来料质检。

耐磨陶瓷台面 + R30 超硬球面测头

φ50mm 陶瓷测量底座耐腐蚀、高平整度、耐刮擦；球面超硬测头长期高频测量无磨损，不划伤薄膜样品表面。

RS232 数字输出，完整数据追溯拓展

标配 RS232C 数据接口，搭配专用 PC 软件自动采集、导出厚度曲线；可选配替换测头、数据传输线、手动泵拓展使用场景。

3. 完整规格参数

表格

项目规格参数说明

测量分辨率0.1μm通用标准精密读数

重复精度0.2μm多次测量波动≤0.2μm

线性度±0.2%全量程线性误差控制

测试压力可调，0.14N适配各类软质超薄薄膜

测量范围0~500μm宽量程，厚薄薄膜通用

测头规格R30 超硬球面耐磨、无试样压痕

测量工作台φ50mm 陶瓷台面高平整度、耐腐蚀耐磨

数据输出RS232C 数字通讯对接电脑采集厚度数据曲线

供电方式AC100V~240V 市电 / 5 节 5 号充电电池交直流双供电，实验室 / 现场两用

型号沿革新型号 HKT-Master0.1BB，旧型号 HKT-1200软硬件升级，增加便携电池供电功能

可选配件专用 PC 数据软件、替换式测头、手动泵按需拓展数据采集、配件更换

4. 典型应用场景

锂电池行业：常规陶瓷隔膜、铝塑复合膜、极片涂层来料厚度抽检

光学薄膜行业：通用 PET 光学基膜、偏光片、防护涂层常规质检

塑胶包装行业：PE/PP 薄膜、食品 / 电子包装卷材仓库来料检测

新材料实验室：中等厚度复合薄膜、功能性涂层小样对比测试

产线移动质检：无固定供电工位，电池供电便携现场抽样检测