日本 YAMABUN 台式接触胶片薄膜厚度测量仪

日本 YAMABUN 台式接触胶片薄膜厚度测量仪 日本 YAMABUN 台式接触胶片薄膜厚度测量仪

1. 产品概述

TOF-5R01 是 YAMABUN（山文电气）面向超薄胶片、精密功能性薄膜推出的台式离线厚度检测设备，同系列 TOF-4R05 为夹持厚片机型，本机为单点接触式，针对更薄薄膜试样开发。

设备搭载自动送料机构，沿样品长度方向多点连续采样，规避人工操作力度、定位不一致带来的数据波动；广泛应用光学胶片、超薄 PET、锂电池隔膜、拉伸薄膜等材料实验室研发、成品抽检，依靠雷达分布图直观评估薄膜纵向厚薄波动。

2. 详细规格参数

表格

参数项目技术指标

测量厚度范围0.02～0.2 mm

单次测量长度10～10000 mm

测量间距≥1 mm（可选 0.1mm 极小间距）

最小显示分辨率0.1 μm

标准测量压力0.3±0.01 N

供电电源AC100~240V 50/60Hz 宽电压

使用环境温度5～40℃

环境湿度35～80% RH（无凝露）

整机功耗50VA（不含外接电脑）

测量原理线性测微器、单点接触式

3. 可选功能配件清单

✅ 卷纸打印输出功能

✅ 0.1mm 极小间距测量模块

✅ 连续自动测量功能

✅ 各类专用特殊测量探头

✅ 图像数据传输机能

✅ 输送速度实时显示

4. 产品核心亮点

✅ 超高分辨率 0.1μm，适配超薄胶片检测

可测 20μm 薄膜，满足光学膜、精密超薄基材严苛厚度管控需求。

✅ 恒定 0.3N 轻测量压力

轻载荷探头，防止软性超薄薄膜受压形变，保证真实厚度读数。

✅ 自动移送测量，检测重复性优异

全自动行进采样，消除人工操作个体差异，试验数据可复现。

✅ 完整数据采集与分析能力

数值实时显示屏展示，测量数据自动保存至 PC；可生成厚度分布雷达图表，用于拉伸成膜工艺参数优化。

✅ 丰富选配模块，灵活拓展

可增加打印、微小步距采样、特殊测头等功能，匹配不同研发、质检测试方案。

✅ 单点垂直接触式结构

标准平面上下测头，适合平整薄膜试样，设备结构简洁，日常维护便捷。

5. 典型应用领域

光学胶片、超薄 PET 薄膜、锂电池隔膜、离型膜；

双向拉伸薄膜、功能性高分子超薄基材；

薄膜工厂研发实验室配方试验、挤出工艺调试；

来料检验、成品出厂厚度均匀性抽检；

材料高校、科研院所高分子薄膜物理特性实验。