日本 JFE 近红外三波长工业检测相机

日本 JFE 近红外三波长工业检测相机 日本 JFE 近红外三波长工业检测相机

1. 产品概述

JN3λ 系列是 JFE 技术研究所推出的三波长共光轴近红外线阵成像设备，属于 FiDiCa® 膜厚分布测定装置产品线。

区别于普通可见光相机，设备采用 950~1700nm 近红外特征波段，捕捉有机物、高分子材料内部成分、水分、杂质信息；共光轴分光结构保证 3 波长图像无位置偏移，搭配线阵一维成像架构，匹配卷材、输送式流水线高速在线连续检测，原厂配套专用分析软件，可提供整套成像检测解决方案。

2. 核心产品优势

核心硬件特点

✅ 三特征波长有机物专用检测

选用适配有机物质识别的 3 组近红外特征波段，将肉眼无法分辨的水分、变质、杂质、组分差异可视化。

✅ 共光轴同步分光成像

单光路分光同时采集 3 波长图像，无像素偏移，省去图像配准工序，提升检测算法稳定性。

✅ 线阵高速一维扫描

专为传送带、薄膜、板材高速输送产线设计，实现不间断全幅在线质检，无漏检区域。

✅ 双机型灵活选型

JN3λ-0509 高感度款：长条像素 25μm×500μm，弱红外信号高灵敏度捕捉；

JN3λ-0508HR 高分辨率款：方形 25μm×25μm 像素，细微杂质、微小成分缺陷高精度识别。

✅ 防尘工业级机身

密闭防尘机箱结构，适配工厂多粉尘、潮湿恶劣生产环境，降低设备维护频次。

内置软件功能

同步模式切换：内部 / 外部触发同步，适配不同产线编码器信号；

图像优化：水平合并、扫描方向切换、增益 / 偏移可调；

完整校正体系：支持 FPN、PRNU、Shading 像素均匀性校正；

运维诊断：内置自检、测试图生成、电压 / 温度 / 工作状态实时监控。

3. 两款机型核心参数对照表

表格

参数项JN3λ-0509（高感度型）JN3λ-0508HR（高分辨率型）

感光元件InGaAs 线阵传感器，950~1700nm同左

总像素512 像素512 像素

单像素尺寸25μm × 500μm25μm × 25μm

成像有效尺寸12.8mm × 0.5mm12.8mm × 0.025mm

4. 典型应用场景

食品行业在线全检

果实成熟度分级、水分含量检测、内部腐败筛查、异物混入剔除、品种分类；

高分子塑料分选

混合树脂在线分选，精准识别并剔除黑色杂料、不同材质混料；

原材料无损质检

化工原料、农林物料水分、组分差异快速筛查；

薄膜 / 卷材制程监测

各类有机薄膜厚度、成分分布连续在线检测。