日本yamada山田光学光掩膜缺陷卤素检查灯 本装置用于半导体晶圆及液晶基板在制程中最耗时、最依赖人工的“最终表面”宏观检查，可快速发现异物、划痕、研磨不均、雾斑、滑移等各类缺陷。

Yamada山田光学0.2μm微小颗粒识别卤素灯 本装置用于半导体晶圆及液晶基板在制程中最耗时、最依赖人工的“最终表面”宏观检查，可快速发现异物、划痕、研磨不均、雾斑、滑移等各类缺陷。

Yamada山田光学洁净室晶圆检测卤素光源 高亮度卤素光源装置是洁净室内半导体晶圆表面品质管理的工具，凭借高照度照明，可识别表面小至 0.2 μm 的微小颗粒。

日本lightest薄膜树脂缺陷透射检查点光源 点光源高指向性，微小划痕也能放大可见 高亮度、均匀照度，约60°宽照射角

日本lightest汽车涂装划痕色差检查点光源 点光源高指向性，微小划痕也能放大可见 高亮度、均匀照度，约60°宽照射角 无需透镜的革新专用灯 标配1/4英寸相机螺丝，可安装于三脚架，固定照射简单

日本lightest金属塑料表面划痕检查用点光源 本装置通过极小的点光源发出直射光，可高灵敏度目视检查： 金属、塑料、玻璃等表面划痕、抛光不均 玻璃、塑料等透明体内部气泡、异物混入

日本csc-biz晶圆洁净室灰尘颗粒检查UV光源 全铝阳极 + 耐酒精涂层，无风扇自然冷却，0.3 μm 颗粒测试 ≤ 10 个/ft³，可直接用在 Class 1000 以下区域 电源一体内置，无外部镇流器，可通过传递窗

日本csc-biz双波长无极调光洁净室检查灯 全铝阳极 + 耐酒精涂层，无风扇自然冷却，0.3 μm 颗粒测试 ≤ 10 个/ft³，可直接用在 Class 1000 以下区域 电源一体内置，无外部镇流器，可通过传递窗