otsuka大塚半导体浆料ZETA电位径粒测试仪 非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究，不仅涉及微小颗粒，还涉及薄膜和平板表面的科学研究。

日本otsuka大塚新ZETA电位计兼纳米粒度仪 可根据用途增加功能(分子量测定、粒子浓度测定、微流变测定、凝胶网眼结构分析、粒径多角度测定) ● 可以用标准流动池连续测量粒径和zeta电位 ● 可以测量从稀薄到浓厚溶液(~40% )的广泛浓度范围的粒径zeta电位 ● 可以在高盐浓度下测定平板状样品的zeta电位 ● 可在0~90℃的广阔温度范围内进行测量

日本miclab电流电压特性测定燃料耐久测试仪 气体供应加湿从加热到电气特性评价，通过专用系统软件进行集中管理、自动测试。

日本进口miclab燃料电池发电测试仪评估设备 气体供应加湿从加热到电气特性评价，通过专用系统软件进行集中管理、自动测试。

日本seikou-giken厚度深度测量传感器工业用 WLI2000系列 厚度测量传感器WLI2000系列 该传感器的特点是利用光干涉非接触式测量工件的厚度。 它是应用医院眼底检查中使用的 OCT 检查技术而开发的工业测量传感器。

日本seikou-giken光干涉非接触式测量厚度仪 WLI2000系列 厚度测量传感器WLI2000系列 该传感器的特点是利用光干涉非接触式测量工件的厚度。 它是应用医院眼底检查中使用的 OCT 检查技术而开发的工业测量传感器。

日东NITTOSEIKO电导率电阻率测试仪测量硅片 MCP-T710 Loresta-GXII是一款测量电阻率的测量仪器，电阻率是材料的评估标准之一。 随着科学技术的发展，研发、生产技术、质量控制等领域对材料快速、轻松管理的需求日益增长。其中，电阻率（表面、体积、电导率）是表示材料状态和性质的指标。Loresta-GXII 是一种可以使用校正系数轻松准确地测量电阻率的设备。

日东NITTOSEIKO导电涂料、油墨电阻测量仪器 MCP-T710 Loresta-GXII是一款测量电阻率的测量仪器，电阻率是材料的评估标准之一。 随着科学技术的发展，研发、生产技术、质量控制等领域对材料快速、轻松管理的需求日益增长。其中，电阻率（表面、体积、电导率）是表示材料状态和性质的指标。Loresta-GXII 是一种可以使用校正系数轻松准确地测量电阻率的设备。