日本 NPS 半导体四探针电阻率测试仪日本 NPS Σ‑∞电阻率测试仪采用四探针法，可高精度测量硅片、LCD 基板、金属薄膜的片电阻与体电阻。设备桌面紧凑型设计，测量范围宽，具备零点自动校准、温度补偿等功能，兼容原有治具程序，适用于半导体、光伏、导电材料研发与产线检测。

日本 NAPSON 半导体非接触式电阻率测试仪NAPSON EC‑80P 为非接触式电阻率测试仪，无需接触样品即可完成方块电阻、体电阻率检测。支持 5 种探头选型，适配半导体、ITO 薄膜、太阳能电池片等试样。设备自动测量，操作简便，可更换探头适配不同量程，适合实验室与产线样品检测，样品直径大于 20mm 且表面平整即可测量。

日本 DAIEI KAGAKU SEIKI 干热牢度测试仪DAIEI 大荣科学 TSI-100B 干热牢度测试仪，又称烫熨测试仪、灼烧铁试验机。设备配备独立控温上下铝制热板，最高温度 250℃，符合 JIS、ISO、GB、AATCC 多项测试标准，用于纺织品干热、热压色牢度及织物氯损伤焦灼试验，温控精度稳定，适用于纺织检测实验室。

日本 Imoto 热固性树脂凝胶化时间测试仪IMC-A0EB 凝胶试验机由日本井元制作所研发，用于测定热固性树脂凝胶化时间。可自由选配热板材质、温控范围与热板形状，温控最高可选 250℃/400℃，整机轻巧约 10kg。设备温控稳定，操作简便，适配高分子材料实验室研发检测，也支持选配过温保护功能。

GARDCO 标准凝胶定时测试仪 220V/50HzGARDCO 凝胶定时器 11575，用于树脂、粘合剂、油漆等材料凝胶时间检测，常温环境即可完成测试。设备搭载数字显示屏，搅拌速度恒定 20rpm，测试精度 ±2%，配套一次性搅拌棒，测试后直接丢弃耗材，无需清洗设备，操作简单耐用，美国原厂制造，适合实验室与现场检测使用。

日本 Kett 凯特 台式粉体白度测试仪日本 Kett 凯特 C-130 粉体白度测试仪，采用青色 LED 光源，反射率测量原理，适用于各类粉体白度检测。开机预热约 20 秒即可测量，支持自定义校准曲线、数据平均、打印输出功能，样品用量少，整机功耗低，广泛应用食品、化工、建材粉末样品的白度检测。

日本 ECG-KOKUSAI 芯片功率电感绝缘测试仪日本 ECG-KOKUSAI 脉冲线圈试验机 DWX-LI 系列，专为金属系芯片功率电感线圈内绝缘浪涌测试设计。搭载 4 端子测试电路，300MHz 高采样率，支持高速产线检测，最短 10ms 单次脉冲测试。可对超低电感线圈施加高压，判定线圈绝缘好坏，广泛用于电感元器件研发与量产质检。

日本 TSURUGA 高速绝缘数字电阻测试仪TSURUGA 3587 数字兆欧表，台式绝缘电阻测试仪，测试电压 DC25‑1000V，高速采样，具备接触检查功能，规避接触不良误判。OLED 绿色显示屏，支持 RS232、BCD 数据输出，参数可长期保存。机身小巧，适配产线自动化测试、实验室材料绝缘检测，可集成测试系统使用。