日本seikou-giken厚度深度测量传感器工业用 WLI2000系列 厚度测量传感器WLI2000系列 该传感器的特点是利用光干涉非接触式测量工件的厚度。 它是应用医院眼底检查中使用的 OCT 检查技术而开发的工业测量传感器。

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日东NITTOSEIKO电导率电阻率测试仪测量硅片 MCP-T710 Loresta-GXII是一款测量电阻率的测量仪器，电阻率是材料的评估标准之一。 随着科学技术的发展，研发、生产技术、质量控制等领域对材料快速、轻松管理的需求日益增长。其中，电阻率（表面、体积、电导率）是表示材料状态和性质的指标。Loresta-GXII 是一种可以使用校正系数轻松准确地测量电阻率的设备。

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日本napson电阻率测试仪半导体/导电薄膜用 EC-80 非接触涡流法电阻率和方电阻手动测量仪