
PRODUCT CLASSIFICATION
产品分类日本oji-keisoku相位差测量平行尼科耳旋转 KOBRA-WFD0系列 1.从超低相位差(2nm以下)到超高相位差(20000nm以下)的广泛测量范围2.高精度的测量特别是取向角的高精度化,实现长期稳定的测量3.日常维护,减少消耗部件标准采用LED光源,无需更换光源灯4.与KOBRA-W系列共用样品支架、可选夹具可共用5.考虑操作性与KOBRA-W系列相比较大的开口部
2025-05-05
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602
日本oji-keisoku相位差/椭球偏振测量装置 KOBRA-HB系列 1.从超低相位差(2nm以下)到超高相位差(20000nm以下)的广泛测量范围2.高精度的测量特别是取向角的高精度化,实现长期稳定的测量3.日常维护,减少消耗部件标准采用LED光源,无需更换光源灯4.与KOBRA-W系列共用样品支架、可选夹具可共用5.考虑操作性与KOBRA-W系列相比较大的开口部
2025-05-05
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641
日本进口osp-inc手持式VOC测量装置多功能 这是一种方便快捷的测量装置,可以轻松、快速地现场检测石油基、氯基等VOCs的总浓度。 内置泵可实现地表气体测量和从钻孔(10m深等)直接抽吸测量,使其成为简单检查和初步筛选的理想选择。
2025-05-05
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574
日本mitaka非接触式微透镜阵列三坐标测量机 MA系列 配备了NH系列的所有基本形状测量功能,可以测量透镜和模具的横截面形状,并使用专用软件一次性测量曲率和中心坐标。
2025-05-05
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810
日本mitaka非接触三维轮廓高精度测量装置 MLP系列 MLP-3 专门从事传统坐标测量机、投影仪和激光显微镜无法实现的复杂测量。点自动对焦探头和每个轴的控制(包括旋转)解决了困扰测量人员的问题。
2025-05-05
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744
日本mitaka非接触三维测量装置高精度耐磨损 NH系列 NH系列实现了高精度和易用性, 解决了过去的测量问题。 ・可在不损坏测量对象的情况下进行测量 ・擅长测量陡峭的斜坡和大的凹凸不平 ・直接测量镜面和透镜等透明物体
2025-05-05
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545
日本mitaka非接触式表面粗糙度快速测量装置 PF系列 通过使用可实现指数测量速度提高 50 倍的扫描 AF 功能和高精度自动 XY 工作台,我们实现了数十毫米大范围内的高速测量,测量精度达到亚微米级。 非常适合测量无法使用截面曲线检测到的精密加工零件的翘曲、成型产品的缺陷形状以及摩擦学中磨损和划痕的定量评估。
2025-05-05
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721
日本KEM热物性测量装置检测绝热材料/陶瓷等 KEM/京都电子 TPS2500S/1500/500S/500$n$n测量绝热材料、陶瓷、金属、固体、液体、粉末、膏体、凝胶样品等的导热系数和热扩散系数,并计算单位体积的比热容。
2025-05-09
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857