英国WEST吸引式小电荷量测量装置喷嘴多功能 WEST/英国 212HS型 212HS 型具有与之前型号相同的测量性能，但提高了可操作性。 主体比传统产品更小。 电池盒支架小型化 采用LCD触摸屏显示 配备数据记忆功能 数据可以从USB终端导出到PC　 可以使用喷嘴上的按钮执行泵的开/关、数据重置和存储操作。　 轻松安装和拆卸过滤器外壳 配件可存放在主机内部

日本toadkk面板式电导率仪用于半导体测量 WBM-100 紧凑的 DIN96 尺寸 微电脑计算温度补偿 具有细胞常数调节功能 可显示水温

日本ceramic forum半导体分析装置测量结晶 HERA FT1230 DLTS方法是一款高感度测量结晶缺陷导致的电子状态的良好方法。 即便是内在微小的杂质或格子缺陷也会很大程度上影响半导体材料性能，所以此类测量非常重要。

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日本oji-keisoku超高相位差双折射测量装置 PAM-UHR100 本装置以透明试样为对象，通过平行尼可光谱法测定数千至2万nm左右的相位差及取向角。通过输入薄膜厚度，自动计算双折射N。

日本oji-keisoku光轴测量装置配向角位相差 PAM-PR300 对光学薄膜偏振轴方位、取向角及相位差值进行测定 无需个人差异，可简便且短时间内测量