日本katsura自准直仪角度高精度测量装置 MS-2000 该设备非常适合评估和检查智能手机和其他设备中安装的具有传感器移位图像稳定功能的相机模块执行器。 通过使用特殊的专用目标，可以高精度地同时测量目标物体的六项：倾斜（θX，θY）、位移（Z）、位置（X，Y）和旋转（θ）。

nisshooptical卤素光源目视检查测量仪日本 AFM-30 这是一种新型深度和高度测量装置，结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF（自动对焦）跟踪。 连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量，并具有高重复性。 由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量，因此可以实时识别测量屏幕上的高度，从而轻松确定需要测量的区域。

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日本meidensha电化学测量装置带液晶监视器 HZ-7000系列 HZ－7000 配置了液晶监视器, 是具备存储功能的小型, 高性能恒电位 / 恒电流测试仪。 以循环伏安法为中心, 可进行各种电化学测量。

日本meidensha带存储功能电化学测量装置 HZ-7000系列 HZ－7000 配置了液晶监视器, 是具备存储功能的小型, 高性能恒电位 / 恒电流测试仪。 以循环伏安法为中心, 可进行各种电化学测量。

日本nisshooptical深度高度测量机卤素光源 AFM-30 这是一种新型深度和高度测量装置，结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF（自动对焦）跟踪。 连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量，并具有高重复性。 由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量，因此可以实时识别测量屏幕上的高度，从而轻松确定需要测量的区域。

日本nisshooptical微米深度高度测量装置 AFM-30 这是一种新型深度和高度测量装置，结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF（自动对焦）跟踪。 连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量，并具有高重复性。 由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量，因此可以实时识别测量屏幕上的高度，从而轻松确定需要测量的区域。