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  • 标签型樱花 PLAZMARK O₂等离子体清洗指示分析剂

    樱花 PLAZMARK O₂等离子体清洗指示分析剂,专为 O₂等等离子体清洗、表面改性场景设计,通过颜色变化直观判断处理效果。适用于半导体后工序、引线键合、元件贴装等工艺,耐热 100℃,卡片 / 标签 / 片状多规格可选,稳定性好、灵敏度高,是等离子体设备均匀性验证与清洁度管控的理想耗材。

    更新时间

    2026-03-26

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    68

  • PLW系列日本 SAKURA  晶圆型等离子分析体指示剂

    日本 SAKURA 晶圆型等离子分析体指示剂 日本 SAKURA 樱花出品,专为半导体 / LED/MEMS 等洁净工艺设计。陶瓷型耐热达 400℃,无金属型实现超高洁净度,可直观可视化等离子处理面内均匀性,通过色差计或专用系统量化评估。晶圆形状与生产基板兼容,安装便捷,减少污染,是精准验证等离子工艺效果的理想工具。

    更新时间

    2026-03-26

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    50

  • HM model系列Macsorb® HM 系列 全自动比表面积分析仪

    Macsorb® HM 系列 全自动比表面积分析仪,采用BET 流动法(单点 / 多点法可选),基于 JIS Z8830 标准,测量范围 0.01~4000 m²/g,再现性 ±1%,单样测量约 10 分钟。搭配自动进样器与 LN2 自动供给,支持 1~30 样连续测定,广泛适用于粉体、催化剂等材料的比表面积分析,是实验室高效精准的物理特性分析设备。

    更新时间

    2026-03-25

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    70

  • SC 系列NASGIKEN SC 晶圆微量金属污染物分析设备

    NASGIKEN SC 晶圆微量金属污染物分析设备,专为半导体行业设计,可自动完成晶圆正面、端面及亲水面的微量金属与非金属离子采样,支持圆环形、扇形等多种模式。设备占地小、易导入,自动供给与回收采样液,大幅降低人为污染,适用于硅及非硅材质、表面粗糙晶圆的污染物检测,是半导体制造质量控制的理想前处理设备。

    更新时间

    2026-03-25

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    88

  • L201RUGGED 便携式多通道光纤温度监测分析仪

    RUGGED 便携式多通道光纤温度监测分析仪便携式光纤温度监测仪(多通道光纤温度监测器),用于工业与实验室的高精度温度测量,具备抗电磁干扰、宽温测量等特性

    更新时间

    2026-03-24

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    99

  • MSK-200micro-fix 多频扫描涡流分析仪

    micro-fix 多频扫描涡流分析仪MSK-200 是日本 micro-fix 品牌的多重周波扫描型涡流检测仪,专为金属热处理质量管控设计。搭载 10.1 英寸触控屏,可直观呈现多频检测波形,精准判别淬火、回火等工艺状态,支持 3 通道同步检测与 255 组参数存储,I/O 接口可对接产线。机身采用工业级材质,抗干扰耐用,适用于汽车、机械等行业的高精度无损质检。

    更新时间

    2026-03-24

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    55

  • MSK-100日本micro-fix  涡流热处理质量分析仪器

    日本micro-fix 涡流热处理质量分析仪器MSK-100 是日本 micro-fix 品牌推出的单周波式涡流检测设备,专为金属零部件热处理质量与材质判别设计。它通过涡流原理,精准捕捉金属磁导率与导电率的变化,从而判断淬火、回火等热处理状态是否合格,广泛应用于汽车、机械制造等行业的在线 / 离线无损检测

    更新时间

    2026-03-24

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    46

  • FLC-1000 系列ANRITSU FL 系列 荧光式光纤分析温度计

    ANRITSU FL 系列 荧光式光纤分析温度计,可在高频、高压等强干扰环境下稳定测温,不受噪音与自发热影响。产品提供 1/4 通道通用型与无显示设备集成型可选,兼容专用光纤温度传感器,测量范围广、精度高,是工业设备温度监测与集成的理想选择。

    更新时间

    2026-03-24

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    48

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