日本nittoseiko低载荷自动粉体电阻测定系统 在“加压-粉体密实”状态下，自动、同步测量粉体的体积电阻率与压粉密度，为锂电、电子、磁性材料等研发与品管提供全新评价手段。

日本nittoseiko金属镀层自动触屏低电阻率计 低阻区 10⁻⁴–10⁷ Ω：采用恒流四探针法（JIS K 7194），标配 ASR 探头，可测导电塑料、ITO 薄膜、导电油墨/浆料、金属镀层等 。 高阻区 10³–10¹⁴ Ω：切换恒压双环电极法（JIS K 6911），选配 URS/UR 系列探头，可测防静电薄膜、工程塑料、涂料、陶瓷等 。

日本nittoseiko小型全自动低电阻率测量仪 7.5 英寸彩色触控屏，按“START”后自动选择电流/电压、极性反转、稳定判定、保持数据并停止，支持 Timer/Auto-hold 两种定时模式

日本nittoseiko玻璃薄膜测量低电阻率计 低阻区 10⁻⁴–10⁷ Ω：采用恒流四探针法（JIS K 7194），标配 ASR 探头，可测导电塑料、ITO 薄膜、导电油墨/浆料、金属镀层等 。 高阻区 10³–10¹⁴ Ω：切换恒压双环电极法（JIS K 6911），选配 URS/UR 系列探头，可测防静电薄膜、工程塑料、涂料、陶瓷等。

日本nittoseiko电池隔膜测量4探针电阻率计 低阻区 10⁻⁴–10⁷ Ω：采用恒流四探针法（JIS K 7194），标配 ASR 探头，可测导电塑料、ITO 薄膜、导电油墨/浆料、金属镀层等 。 高阻区 10³–10¹⁴ Ω：切换恒压双环电极法（JIS K 6911），选配 URS/UR 系列探头，可测防静电薄膜、工程塑料、涂料、陶瓷等。 → 用户无需购买两台仪器即可实现“Ω 级到 TΩ

日本nittoseiko半导体硅晶圆测量电阻率计 低阻区 10⁻⁴–10⁷ Ω：采用恒流四探针法（JIS K 7194），标配 ASR 探头，可测导电塑料、ITO 薄膜、导电油墨/浆料、金属镀层等

日本nittoseiko手持式4探针低电阻率测量仪 采用专用4探针探头，一键高精度测量各种材料的电阻率。 自动保持功能还可设置定时器，确保获得准确的测量值。 除了附带的AC适配器外，还可使用市售的镍氢电池（5号电池4节）。连续测量时间大幅延长。

日本nittoseiko表薄膜硅片工业级低电阻率计 采用符合 JIS K 7194 的四端子 4 探针+恒流施加法，可一键完成 10⁻²~10⁶ Ω 范围的电阻率测试，分辨率 1 mΩ。 内置自动保持/定时器功能，确保读数稳定后才锁定结果，避免人工判断误差。