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日本NSK 光切断测量机高精度测量仪器

日本NSK 光切断测量机高精度测量仪器日商精密光学 HM-90-Ⅱ-TVC-PR 光切断测定机，是高精度非接触式表面形貌测量仪器。依托光切断原理与激光自动对焦技术，实现 0.1μm 分辨率的深度 / 高度测量，Z 轴量程 0~10mm。搭配 100×~200× 光学倍率与 450×~900× 光切断倍率，支持彩色 TV 观测与数据打印，广泛应用于精密制造、半导体、材料检测等领域。

产品型号：HM-90-II-TVC-PR
厂商性质：经销商
更新时间：2026-03-28
访问量：10

联系电话：13823182047

日本NSK 光切断测量机高精度测量仪器日本NSK 光切断测量机高精度测量仪器

一、产品细节与外观

这款仪器由日商精密光学株式会社（NSK TOKYO）匠心打造，整机采用米白色与黑色的经典工业配色，结构紧凑且稳固耐用。主机部分集成了精密光学镜头、Z 轴高精度驱动机构与操作旋钮，右侧搭载双目镜筒或彩色 TV 观测系统，搭配 14 寸高画质监视器与数字显示单元，可清晰呈现被测物表面的微观形貌。机身正面的 SLIT、SPOT、STANDARD 旋钮，用于精准切换基准狭缝、投射狭缝与照明模式，操作直观便捷。

二、核心性能优势

依托光切断法与激光自动对焦技术，仪器实现了非接触式高精度测量，Z 轴分辨率达 0.1μm，测量范围覆盖 0~10mm，可对微小台阶、沟槽深度、表面高度差进行精准量化。光切断倍率可达 900×，远高于普通光学显微镜的 140 倍，能清晰捕捉纳米级表面细节；配合彩色 TV 成像系统，可实时观测测量过程并留存图像，支持数据打印输出，确保测量结果可追溯。

三、材质与工艺

仪器主体采用高强度合金铸造，保证长期使用下的结构稳定性与抗震性。光学镜头组选用高透光率光学玻璃，经过多层镀膜处理，提升成像清晰度与对比度；Z 轴驱动部件采用精密滚珠丝杠与导向机构，确保移动平滑无背隙，长期维持测量精度。投射狭缝与基准狭缝采用高精度蚀刻工艺，宽度公差控制在微米级，为测量提供可靠基准。

四、技术参数与型号

型号为HM-90-Ⅱ-TVC-PR，标准配置下：

接眼透镜 10×，对物透镜 10×（可选 20×），综合倍率 100×（可选 200×）；

光切断倍率 450×（可选 900×），工作距离（WD）6mm；

基准狭缝默认平行 2 本线，可选十字线、中心镂空十字线等类型；

投射狭缝默认 10μm 半反射镜型，可选 3μm、30μm、80μm 等规格；

Z 轴显示范围 0~10mm，精度 0.1μm；

照明系统支持投射狭缝、点光源、基准狭缝三种模式；

TV 装置包含 14 寸彩色高画质监视器与相机，PR 后缀代表搭载打印机。

五、应用场景

广泛适用于精密制造、半导体、电子元器件、材料科学等领域：

可测量芯片封装的键合线高度、PCB 板线路沟槽深度、精密模具的表面粗糙度、陶瓷 / 玻璃等脆性材料的微小裂纹与台阶高度，也可用于科研机构的材料表面形貌分析与质量检测。

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日本NSK 光切断测量机高精度测量仪器

一、产品细节与外观

二、核心性能优势

三、材质与工艺

四、技术参数与型号

五、应用场景

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