日本 NSK 光切断法自动对焦高精度测量仪

日本 NSK 光切断法自动对焦高精度测量仪日商精密光学 AF 深度高度测量机，采用光切断法与自动对焦技术，实现 0.1μm 高精度测量。搭配彩色监视器实时观测，支持自动追踪与手动测量，适用于芯片、PCB、模具等微小台阶、深度与高度差检测。设备结构稳定、成像清晰，广泛用于精密制造与材料检测领域。

产品型号：AF-Micron 系列
厂商性质：经销商
更新时间：2026-03-28
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联系电话：13823182047

日本 NSK 光切断法自动对焦高精度测量仪 日本 NSK 光切断法自动对焦高精度测量仪

这款仪器由日商精密光学株式会社打造，整机采用米白色工业级机身，结构紧凑稳固。核心光学系统搭载 13 英寸液晶彩色监视器与彩色电视摄像机，可实时呈现被测物表面的狭缝断面形貌；机身配备 XY 轴移动平台与操作控制盒，搭配数字线性表显示单元，直观呈现测量数值。光源模块与光学镜头组分离设计，便于维护与光路调整。

⚡ 核心性能优势

它是结合光切断法狭缝观察与点光源自动对焦（AF）追踪的新型测量设备，通过红色激光点自动捕捉阶差变化，Z 轴快速追随实现 0.1μm 分辨率的数字显示。AF 驱动具备高连续追踪性，可在 XY 轴移动平台上完成高效测量，重复精度控制在 ±1μm 以内；关闭自动开关后，可切换为手动微米级测量模式，兼顾自动化与手动操作需求。光切断仰角除标准 90° 外，还可定制 30°、60°、120°，适配不同测量场景。

🛠️ 材质与工艺

机身采用高强度合金铸造，保证长期使用的抗震性与结构稳定性；光学镜头选用高透光率玻璃并经多层镀膜处理，提升成像对比度；Z 轴驱动采用精密丝杠与导向机构，消除背隙确保移动平滑；投射狭缝采用高精度蚀刻工艺，标准配置为 10μm 半透半反镜型，可选 30μm、80μm 规格，满足不同精度需求。

📊 技术参数

观察方式：光切断方式（狭缝光学系统深度高度测量）
物镜：标配 10 倍，可选 5 倍、20 倍
Z 轴驱动：点光源 AF 连续追踪方式（离线可手动测量）
投射狭缝：10μm 半透半反镜型（可选 30μm、80μm）
Z 轴测量：数字线性表 0.1μm 读数
重复精度：±1μm 以内
光源：2 类 350mW 半导体激光器、150W 卤素灯（配 1m 光纤导管）
影像系统：彩色电视摄像机 + 13 英寸液晶彩色监视器

🎯 应用场景

广泛应用于精密制造、半导体、电子元器件、材料检测等领域，可测量芯片封装台阶高度、PCB 线路沟槽深度、精密模具表面差、陶瓷 / 玻璃脆性材料裂纹等，也适用于科研机构的材料表面形貌分析与质量管控。

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