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日本NSK 高精度测量显微镜光切断测定仪器

日本NSK 高精度测量显微镜光切断测定仪器日商精密光学 KY-90 光切断测定机，采用光切断法实现非接触式高精度测量。搭载正立像光学系统，综合倍率 100×，Z 轴精度 1μm，XY 平台支持 50×50mm 行程，可承载大型试样。设备结构稳定、照明均匀，广泛用于精密制造、半导体等领域的微小形貌检测。

产品型号：KY-90
厂商性质：经销商
更新时间：2026-03-28
访问量：9

联系电话：13823182047

产品细节与外观

这款仪器由日商精密光学株式会社打造，整机采用低重心稳定平型底座设计，结构紧凑且抗震性优异。光学系统搭载正立像 10× 接眼镜（单眼 / 双眼可选），搭配多级对焦机构（粗动 100mm、中粗动 20mm、微动 2.0mm），操作精准流畅。XY 轴移动平台支持 50×50mm 行程，可承载大型试样，同时配备 TV 相机 / 监视器或偏振光相机等观测模块，满足不同可视化需求。

⚡ 核心性能优势

依托光切断法实现非接触式高精度测量，通过投射狭缝与基准狭缝的配合，清晰呈现被测物表面断面形貌。标准配置下综合倍率 100×，可选 5×/15×/20× 物镜；Z 轴测量精度达 1μm，XY 轴可扩展至 1μm 数字读数，支持三维测量。照明系统采用卤素灯与光纤组合，光照均匀稳定，适合长时间高精度测量作业。

🛠️ 材质与工艺

机身采用高强度合金铸造，保证长期使用的结构稳定性；光学镜头选用高透光率玻璃并经多层镀膜处理，提升成像清晰度；投射狭缝采用高精度蚀刻工艺，标准为 10μm，可选 3μm/30μm/80μm 及半透半反镜型；XY 平台配备精密丝杠与导向机构，确保移动平滑无背隙，维持长期测量精度。

📊 技术参数

光学系统：正立像，10× 接眼镜 45° 倾斜（单眼 / 双眼可选），综合倍率 100×，物镜可选 5×/15×/20×
狭缝系统：基准狭缝为平行 2 本线，可选中心镂空十字 / 刻度目盛；投射狭缝标准 10μm，可选 3μm/30μm/80μm
对焦机构：粗动 100mm、中粗动 20mm、微动 2.0mm 三级调节
XY 平台：50×50mm 移动行程，显微计 10μm 读数，数字 1μm 读数
Z 轴测量：Z 轴数字 gauge，1μm 读数，支持三维测量与 XYZ 轴计数器
照明：卤素灯照明 3 口 + 光纤 3 根，光照稳定均匀
TV 装置：1/2 英寸黑白相机 + 9 英寸黑白监视器（KY-90-TV），或偏振光相机（KY-90-P）

🎯 应用场景

广泛应用于精密制造、半导体、电子、材料检测等领域，可测量芯片封装台阶、PCB 线路深度、模具表面差、薄膜厚度、陶瓷 / 玻璃裂纹等微小形貌，也适用于科研机构的材料表面分析与质量管控。

📦 包装与使用说明

仪器采用定制防震木箱包装，内部填充缓冲材料保护光学组件。开箱后需由专业工程师完成水平校准、光路调试与精度验证。操作时将样品置于 XY 平台，通过接眼镜或监视器观察狭缝像，对准测量点后读取 Z 轴数值；可切换不同狭缝与照明模式，适配多样测量需求。日常需避免灰尘与震动，定期清洁光学镜头。

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🛠️ 材质与工艺

📊 技术参数

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