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HINDS INSTRUMENTS 双折射成像显微镜仪器美国 HINDS INSTRUMENTS Exicor® 微型成像仪™双折射成像显微镜，延迟重复性≤0.5nm，支持红 / 橙 / 绿 / 蓝多波长测量，最高 0.18μm 分辨率，15 秒快速成像，适配生物结构、玻璃、晶体等有机 / 无机样品，为学术与工业界提供精准的双折射评估方案。
产品型号：Exicor® 成像仪™厂商性质：经销商更新时间：2026-04-02访 问 量：32
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HINDS INSTRUMENTS 双折射成像显微镜仪器 HINDS INSTRUMENTS 双折射成像显微镜仪器
超高测量精度：延迟重复性≤0.5nm（3 sigma），可精准捕捉纳米级双折射变化，满足低级别双折射测量的需求。
多波长灵活测量：支持红、橙、绿、蓝四种光源波长，适配不同样品的光学特性，拓展测量场景。
宽测量范围：延迟测量范围 2nm - 0.5λ（单色），相位解包裹后可达 3500nm，覆盖从微小应力到厚样品的全场景测量。
高速成像效率：标称测量速度 15 秒，大幅提升检测效率，适配批量样品检测需求。
多倍率光学配置：标配 2/5/10/20 倍物镜，分辨率从 2μm 到 0.18μm 可调，视场覆盖 4.941×4.123mm 到 0.437×0.364mm，满足从宏观到微观的全尺度观测。
高分辨率成像系统：搭载 2464×2056px、12 位图像传感器，成像细节清晰，数据精准可靠。
| 参数项 | 规格详情 |
|---|---|
| 品牌 | HINDS INSTRUMENTS（美国） |
| 产品型号 | Exicor® 微型成像仪™ |
| 延迟重复性 | ≤0.5 nm (3 sigma) |
| 光源波长 | 红色、橙色、绿色、蓝色 |
| 延迟测量范围 | 2 nm - 0.5λ (1 色)，相位解包裹至 3500 nm |
| 测量速度 | 标称 15 秒 |
| 底座尺寸 | 36.1 cm × 26.5 cm |
| 设备高度 | 77.1 cm |
| 工作台行程 (x,y) | 75 mm，56 mm |
| 图像传感器 | 2464 px × 2056 px，12 位 |
| 物镜倍率与参数 | 2 倍：分辨率 2μm，视场 4.941×4.123mm5 倍：分辨率 0.74μm，视场 1.83×1.53mm10 倍：分辨率 0.36μm，视场 0.876×0.731mm20 倍：分辨率 0.18μm，视场 0.437×0.364mm |
生命科学：生物组织结构（如植物根茎、生物组织切片）双折射测量，研究细胞结构与力学特性。
材料科学：玻璃、晶体、光学薄膜等无机 / 有机材料的双折射、应力分布检测。
工业质控：光学元件、半导体材料的应力与缺陷分析，保障产品性能。
学术科研：高校、科研院所的材料物理、生物力学等领域的基础研究。
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