王子计测机器 OSI MOA 系列 分子取向计

王子计测机器 OSI MOA 系列 分子取向计 王子计测机器 OSI MOA 系列 分子取向计

1. 产品定位与核心价值

2. 核心技术与产品特点

• 非接触・非破坏测定：无需接触样品，避免对脆弱材料、薄膜的损伤，同时保持测试环境洁净，确保样品原貌。

• 全材质适配：无论透明还是不透明材料均可进行测定，不受样品外观限制，覆盖超广泛的样品类型。

• 全自动・高精度：实现全自动化测量流程，同时具备的测量精度，保证数据的准确性与重复性。

• 复数介电率测定：不仅可测分子取向，还能同步测定复数介电率（诱电率、诱电损耗率），深入分析材料电学特性。

• 高效检测：针对延伸薄膜等材料，可精准解析异方性（ボーイング現象），为材料工艺优化提供核心数据支撑。

3. 标准规格与适配参数

4. 适用测量对象

1. フィルム、シート（薄膜、 sheets）：延伸薄膜、工业薄膜、包装薄膜等，解析其异方性与分子排列。

2. 紙、不織布、プリプレグ（纸、无纺布、预浸料）：纸品、纺织材料、复合材料预浸料的内部结构评估。

3. 発泡シート（发泡 sheet）：发泡材料内部分子分布、孔隙结构分析。

4. セラミックス（陶瓷）：陶瓷片、陶瓷基板的介电性能与取向检测。

5. ゴムシート（橡胶 sheet）：橡胶材料的分子取向与特性测试。

6. 液晶ポリマー (LCP)：液晶聚合物的取向评估，用于电子互连器件研发。

5. 核心用途

• 延伸薄膜异方性测定：解析工业薄膜在延伸过程中的分子异方性（ボーイング現象），优化生产工艺。

• 液晶聚合物 (LCP) 取向评价：精准评估 LCP 材料的分子排列，保障电子材料高频信号传输性能。

• 电子材料介电率测试：针对电子关联材料，测定复数诱电率，适配 5G、高频电路板材料研发。

• 材料研发与质控：用于新材料开发阶段的性能验证，以及生产线上的批量质量检测。