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王子计测机器 OSI 位相差测定装置仪器日本王子计测 OSI KOBRA-HB 系列位相差测定装置，覆盖 2nm~20000nm 超宽位相差量程，采用平行尼科尔回转法等多种检测方式，LED 光源免维护，兼容 KOBRA-W 系列夹具，大开口设计易操作，紧凑机身适配实验室，用于薄膜、光学材料的位相差、配向角高精度检测。
产品型号：KOBRA-HB 系列厂商性质：经销商更新时间：2026-04-02访 问 量：27
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王子计测机器 OSI 位相差测定装置仪器 王子计测机器 OSI 位相差测定装置仪器
超宽测量范围：覆盖从 ** 超低位相差（2nm 以下）到超高位相差（20000nm）** 的全量程，适配从超薄薄膜到厚板材的各类样品。
高精度稳定检测：针对配向角实现高精度测定，同时具备优异的长期稳定性，保障检测数据的准确性与重复性。
低维护成本设计：标配 LED 光源，无需更换光源灯泡，大幅降低日常维护成本与耗材消耗。
高兼容性：与 KOBRA-W 系列共享样品夹具、可选治具，可直接沿用现有配件，降低设备升级成本。
人性化操作设计：相比 KOBRA-W 系列拥有更大的开口部，样品取放更便捷，操作体验大幅提升。
紧凑机身设计：尺寸远小于 KOBRA-W 系列，大幅节省实验室空间，适配各类实验室布局。
| 核心参数 | 规格详情 |
|---|---|
| 测定方式 | 平行尼科尔回转法、回転偏光子法、平行尼科尔分光法 |
| 测定波长 | 450、500、550、590、630、680nm；400~800nm（分光模式） |
| 样品尺寸 | 垂直入射测定：30mm 角以上；入射角依存性：30mm~40×50mm、厚度 3mm 以下 |
| 测定面积 | 33mm²（5.8mm 角受光面积）；φ0.8mm（分光模式） |
| 位相差量程 | 2nm 以下～20000nm |
| 设备尺寸（对比 KOBRA-W） | 幅 300mm（W 系列 500mm）、奥行 700mm（W 系列 830mm）、高さ 500mm（W 系列 700mm） |
显示面板行业：偏光片、相位差膜、液晶面板的位相差、配向角检测，保障显示画质与光学性能。
光学材料行业：光学薄膜、高分子薄膜、透明板材的偏光特性、分子取向评估。
包装印刷行业：包装薄膜的位相差检测，优化印刷与包装工艺。
科研研发领域：新材料开发、光学特性研究、工艺优化的核心检测设备。
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