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日本 TECHNUM 非接触激光表面粗糙度检测仪TECHNUM TFS2100AW 是桌面小型非接触粗糙度与断面轮廓测量系统,搭载 φ2μm 极小光斑共焦激光,分辨率 0.01μm;可测金属、树脂、薄膜、玻璃、镜面工件,数据符合 JIS'94/JIS'01 国标,高速采集断面曲线,支持自定义粗糙度参数,无探针划伤样品,适配实验室精密表面表征。
产品型号:TFS2100AW
厂商性质:经销商
更新时间:2026-07-17
访 问 量:13
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日本 TECHNUM 非接触激光表面粗糙度检测仪 日本 TECHNUM 非接触激光表面粗糙度检测仪
1. 产品概述
TFS2100 系列是日本 TECHNUM 推出的经济型非接触粗糙度 & 断面轮廓二合一测量设备,同品牌 TDS2100 三维形貌仪的单线剖面专用款,主打低成本桌面式精密表面检测。
主机为标准化扫描平台,可搭配市售商用激光位移传感器,标配 TFS2100AW 共焦点传感模组,光斑仅 2μm,能捕捉微观纹理细微起伏;全程光学非接触扫描,避免传统接触式粗糙度仪探针压伤超薄薄膜、抛光镜面、软质橡胶样品;内置符合 JIS 工业粗糙度标准算法,同时输出断面轮廓曲线与全套粗糙度参数,工作台行程可按工件定制,适合高校材料实验室、精密加工、光学元件研发。
2. TFS2100AW 核心硬件参数
表格
参数项目TFS2100AW 规格
测量原理共焦点式激光传感
工作距离6mm
Z 轴测量范围±0.3mm
激光光源670nm 可见光 ClassⅠ 安全半导体激光,170μW
光斑直径φ2μm(超小微区精细扫描)
分辨率0.01μm
重复精度0.01μm
线性度±0.5% F.S
兼容被测材质金属板材、树脂、橡胶、薄膜、透明玻璃、镜面抛光件
配套主机 TFS2100仅扫描运动平台,激光传感器需单独选配
3. 核心产品优势
硬件性能亮点
✅ 极小 2μm 光斑,微观纹理精准捕捉
超小激光光斑,可测量微沟槽、微细纹路、芯片微小图案表面粗糙度,分辨力达 0.01μm,媲美进口粗糙度设备。
✅ 全材质兼容,透明 / 镜面无需预处理
共焦光路消除反光、透射干扰,玻璃、晶圆、抛光金属、透明薄膜无需喷涂即可直接测量。
✅ 非接触无损检测
无硬质探针接触工件,超薄光刻胶、软橡胶、光学镀膜不会产生划痕、压痕。
✅ 小型桌面机身,低成本投入
体积小巧放置于普通实验台,采购成本远低于进口接触式粗糙度仪、白光干涉仪。
✅ 传感器自由选配拓展
主机平台兼容市面主流激光位移传感器,可按需更换共焦、三角测距传感模块切换精度与量程。
✅ 定制化扫描行程
标准行程基础上,可根据长条工件、大面积板材加长扫描轴行程。
软件功能亮点
合规 JIS 工业粗糙度标准
内置 JIS'94、JIS'01 全套粗糙度算法,输出 Ra、Rz、Ry 等标准参数,可直接对标行业检测报告;
自定义企业专属粗糙度参数
支持导入客户自研判定参数,适配特殊工艺品质管控标准;
断面轮廓 + 粗糙度双图谱输出
软件同步生成二维断面曲线、表面粗糙度波纹图,直观展示纹理起伏;
高速连续采集
扫描数据高速实时传输,缩短单件样品检测时长,适配批量样品测试;
多测量模式切换
微区局部抽检、长距离全域剖面扫描两种模式自由切换。
4. 典型应用场景
精密金属加工行业
不锈钢、钛合金、铝板、冲压件表面粗糙度、切削纹路断面轮廓检测;
光学 & 薄膜材料
光学玻璃、PET 薄膜、镀膜基板、透明树脂表面微观纹理表征;
橡塑新材料研发
橡胶、软质塑料、复合薄膜无接触粗糙度测试,避免探针压损;
半导体微电子
晶圆表面微图案、光刻胶薄层微小区域粗糙度剖面测量;
高校 / 科研院所实验室
新材料表面工艺迭代、微观形貌基础表征、教学检测设备。