日本 Santec 高分辨率1310nm光学断层测定器

日本 Santec 高分辨率1310nm光学断层测定器 日本 Santec 高分辨率1310nm光学断层测定器

1. 产品概述

IVS-2000-HR 是 Santec 面向科研与工业检测推出的扫频光学相干断层扫描（SS-OCT）系统，专为强散射、半透明样品微观分层检测设计。区别于普通 OCT 设备，本机搭载优化 1310nm 红外光源，对生物组织、高分子药片、复合膜层等散射介质穿透能力更强；同时拥有全系列最高轴向分辨率，可清晰分辨 5μm 以内细微分层结构，成像清晰度大幅提升。

整机由 IVS-2000 主机、HSL 高速扫描激光单元、精密显微载物台组成一体化工作站，无需额外搭建光路，开箱即可完成断层成像、厚度量化、缺陷筛查，广泛覆盖生命科学、日化研发、精密制造多领域实验室场景。

2. 核心硬件规格参数

中心工作波长：1310 nm

线扫描速率：20 kHz

空气中轴向分解能：＜9 μm

体内实测分辨率：≤5 μm（IVS 系列最高水准）

光源类型：扫频激光 SS-OCT

配套模组：HSL 高速扫描激光单元、精密 XY 显微载物台

检测模式：非接触无损成像、实时断层图像输出、膜层厚度数值量化

3. 核心产品优势

① 1310nm 红外波段，强散射样品适配性强

近红外光相比可见光、850nm 波段，穿透生物皮肤、药片粉体、高分子复合材料的能力更强，可获取更深层内部断层结构，不会出现表层信号过强掩盖底层缺陷的问题。

② 系列顶尖超高分辨率，微米级细微分层识别

体内分辨率低于 5μm，可清晰区分皮肤表皮 / 真皮分层、药剂包衣多层膜、光学薄膜、半导体涂层等极薄界面，满足前沿科研与高精度工业质检需求。

③ 20kHz 高速线扫，批量检测效率更高

高速扫描光源大幅缩短单张断层图像采集时间，大批量样品筛查、长时间动态观测（皮肤刺激试验、药剂溶出观测）不会产生运动模糊，数据采集稳定性强。

④ 无损无标记检测，样品可重复利用

全程红外光学非接触测量，无需染色、切片、破坏样品，生物皮肤活体检测、珍贵药剂、精密元器件检测后样品可留存做后续对照试验，降低试验耗材成本。

⑤ 一体化成套工作站，部署简单

主机 + 高速扫描激光 + 显微载物台成套交付，光路出厂校准完成，实验室仅需供电即可使用，无需光学工程师调试光路，快速投入试验。

⑥ 双场景通用设计，兼顾科研与工业质检

一套设备同时满足生命科学皮肤机理研究、化妆品功效评价，以及工业元器件微缺陷、多层薄膜厚度在线测量，设备复用率高。

4. 两大核心应用领域

（1）生物 / 日化 / 医药科研：皮肤微观断层成像

化妆品研发：保湿、抗衰、修护类护肤品透皮吸收机理观测，表皮屏障分层变化成像

医药皮肤科：外用药物渗透深度定量、皮肤炎症组织分层对比、活体皮肤无创病理观测

药剂检测：药片包衣多层厚度测量、缓释药剂内部孔隙结构、胶囊壁分层缺陷检查

（2）工业精密检测：微结构成像与膜厚测量

光学 / 半导体器件：多层光学涂层、晶圆保护膜、聚合物基板内部微裂纹、气泡缺陷筛查

高分子复合材料：薄膜卷材、柔性基材多层厚度均匀性检测，复合胶层界面分层观测

精密零部件：透明 / 半透明器件内部空洞、分层、划痕无损探伤，替代切片破坏性检测