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  • FZ-123WP日本AND防尘防水型质量分析电子天平

    日本AND防尘防水型质量分析电子天平 适用于化学、生物、制药等领域的高精度测量。 工业生产:适用于需要高精度称量的生产环节,如电子元件制造、食品加工等。

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    2025-10-18

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  • AD-4212D-S日本AND便携式内置校准砝码微量分析天平

    日本AND便携式内置校准砝码微量分析天平 最小显示精度可达0.001mg,能够满足高精度称量需求。 快速稳定:采用高灵敏度的电磁式数字负载传感器(EM-DLC®),可在约7秒内快速稳定,提高工作效率。

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    2025-10-18

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  • HR-250AZ日本AND快速响应分析用高精度电子天平

    日本AND快速响应分析用高精度电子天平 高精度计量:最小显示精度为0.1mg,能够满足高精度称量需求。 快速稳定:采用高灵敏度C-SHS传感器,可在约2秒内快速稳定,提高工作效率。

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    2025-10-18

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  • BA-6TE日本AND材料研发配比分析微量电子天平

    日本AND材料研发配比分析微量电子天平 元素分析和质量分析的预处理 高精度计量:精度高达1微克(1μg)以上。 计量部分体积小,不易受气流影响,节省空间。

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    2025-10-18

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  • GX-124AE日本AND内置砝码精准称重计量分析电子天平

    日本AND内置砝码精准称重计量分析电子天平 GX-A系列天平内置砝码,可随时进行高精度计量,最小显示精度可达0.1mg。 Smart SHS®传感器:采用新开发的Smart Super Hybrid Sensor,实现高速响应和高分辨率。 ISD冲击检测功能:当计量皿受到冲击时,通过4级警告显示和蜂鸣器提醒用户。 FRD流量测定功能:可将荷重变化计算为“流量”,实现高精度流量测定。

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    2025-10-18

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  • BM-252日本AND自动校正高精度分析电子天平

    日本AND自动校正高精度分析电子天平 适用于需要高精度和可靠性的计量应用,如实验室、珠宝行业、食品和医药品制造等

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    2025-10-18

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  • BH-225TE日本AND贵金属精密量分析电子天平

    日本AND贵金属精密量分析电子天平 适用于需要高精度和可靠性的计量应用,如实验室、珠宝行业、食品和医药品制造等。 电磁平衡式 精度等级2级 单量程 内置自动校正机构(内置砝码型),不受使用地域限制 防尘防水等级IP65,适合粉尘或液体测量环境

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    2025-10-18

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  • GX-12001L-K日本AND实验样品分析自动校正型电子天平

    日本AND实验样品分析自动校正型电子天平 适用于需要精确测量质量的场合,如实验室、制药、食品加工和珠宝行业。 内置自动校正:内置砝码和自动校正功能减少了地域限制,确保在不同环境下的准确性。 防尘防水设计:IP65防护等级使其适合可能接触粉末或液体的环境,如工厂生产线。

    更新时间

    2025-10-18

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