日本nisshooptical半导体激光器测量装置 AFM-30 这是一种新型深度和高度测量装置，结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF（自动对焦）跟踪。 连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量，并具有高重复性。 由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量，因此可以实时识别测量屏幕上的高度，从而轻松确定需要测量的区域。

日商精光nisshooptical光学系统测量深高度 AFM-30 这是一种新型深度和高度测量装置，结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF（自动对焦）跟踪。 连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量，并具有高重复性。 由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量，因此可以实时识别测量屏幕上的高度，从而轻松确定需要测量的区域。

日本meidensha电化学测量装置带液晶监视器 HZ-7000系列 HZ－7000 配置了液晶监视器, 是具备存储功能的小型, 高性能恒电位 / 恒电流测试仪。 以循环伏安法为中心, 可进行各种电化学测量。

日本meidensha带存储功能电化学测量装置 HZ-7000系列 HZ－7000 配置了液晶监视器, 是具备存储功能的小型, 高性能恒电位 / 恒电流测试仪。 以循环伏安法为中心, 可进行各种电化学测量。

日本nisshooptical深度高度测量机卤素光源 AFM-30 这是一种新型深度和高度测量装置，结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF（自动对焦）跟踪。 连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量，并具有高重复性。 由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量，因此可以实时识别测量屏幕上的高度，从而轻松确定需要测量的区域。

日本nisshooptical微米深度高度测量装置 AFM-30 这是一种新型深度和高度测量装置，结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF（自动对焦）跟踪。 连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量，并具有高重复性。 由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量，因此可以实时识别测量屏幕上的高度，从而轻松确定需要测量的区域。

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