日本tsuruga鹤贺内置20通道扫描仪电阻计 内置扫描仪最多可支持 20 通道（20CH）自动切换，适合继电器触点、线束、连接器等需要多点测量的场景。 电阻测量范围 300 mΩ – 30 kΩ，共 6 个量程。 测量方式 采用直流 4 端子法，可消除引线电阻影响，保证低电阻测量精度。

日本tsuruga鹤贺 便携式直流接触式电阻计 配备 2 种测量电流切换功能 采用不受引线电阻影响的直流 4 端子法 标配模拟输出、RS-232C 接口 主机仅 1 kg，附带便携提手

日本tsuruga鹤贺四端子法五档直流低电阻计 MODEL 356G-H 是一台直流低电阻计，采用四端子法，可在 30 mΩ～300 Ω 五档量程内快速、高精度地测量接触电阻、绕组电阻等微弱阻值。

高电阻率计 包装材料防静电特性评估 测量绝缘材料、半导体薄膜、防静电层等的高表面电阻率（Ω/□）与体积电阻率（Ω·cm），覆盖 10³–10¹⁴ Ω 的超宽量程，适用于研发、品管、FA 实验室。

PI、BCB薄膜研发高阻评估高电阻率计 测量绝缘材料、半导体薄膜、防静电层等的高表面电阻率（Ω/□）与体积电阻率（Ω·cm），覆盖 10³–10¹⁴ Ω 的超宽量程，适用于研发、品管、FA 实验室

绝缘高阻材料测量台式高电阻率计 超宽量程单台覆盖 10³ – 10¹⁴ Ω（@ 1 V–1000 V），无需更换主机即可测防静电薄膜到绝缘树脂。 1 V–1000 V 可编程扫描 29 档施加电压，带“自动电压扫描”模式，一次获得电阻-电压曲线，便于研究材料的非线性、击穿特性。

nittoseiko环氧树脂半导体薄膜高电阻率计 用途：测量绝缘材料、半导体薄膜、防静电层等的高表面电阻率（Ω/□）与体积电阻率（Ω·cm），覆盖 10³–10¹⁴ Ω 的超宽量程，适用于研发、品管、FA 实验室。

液晶显示器触控评估自动电阻率测定仪 对导电薄膜、金属箔、ITO 玻璃、触控/光伏大板等进行全自动二维 mapping，快速可视化整板电阻率（Ω/□）分布与均匀性，适用于生产线来料检验、工艺优化与失效分析。