桌面型ITO玻璃膜厚分布可视化低电阻率计 对导电薄膜、金属膜、ITO 玻璃等样品进行“表面电阻率 Ω/□”与“体积电阻率 Ω·cm”二维 mapping，快速可视化膜厚/组分均匀性。

导电薄膜膜厚分布评估低电阻率自动测定仪 对导电薄膜、金属膜、ITO 玻璃等样品进行“表面电阻率 Ω/□”与“体积电阻率 Ω·cm”二维 mapping，快速可视化膜厚/组分均匀性。

药品食品粉体压缩导电性评估自动电阻测量仪 全自动一键测量 设定目标载荷后按 START，加压、电阻率计算、密度计算、数据保存全部自动完成。 超低载荷对应（0.01 kN 起） 新开发“气缸泵”结构，可对易碎、低屈服粉体进行无破坏阶梯加压，分辨率 0.001 kN。 粉体专用 4 探针 & 环形电极 同一探头内集成 4 探针（体积电阻率）与环形电极（表面/泄漏电流抑制），无需更换夹具即可在任意压力下

nittoseiko陶瓷粉体压粉密度电阻率测定仪 全自动一键测量 设定目标载荷后按 START，加压、电阻率计算、密度计算、数据保存全部自动完成。 超低载荷对应（0.01 kN 起） 新开发“气缸泵”结构，可对易碎、低屈服粉体进行无破坏阶梯加压，分辨率 0.001 kN。 粉体专用 4 探针 & 环形电极

导电填料碳材料开发自动粉体电阻测定仪 用途：在“加压-粉体密实”状态下，自动、同步测量粉体的体积电阻率与压粉密度，为锂电、电子、磁性材料等研发与品管提供全新评价手段。

日本nittoseiko锂离子电池粉体电阻测定仪 在“加压-粉体密实”状态下，自动、同步测量粉体的体积电阻率与压粉密度，为锂电、电子、磁性材料等研发与品管提供全新评价手段。

日本nittoseiko低载荷自动粉体电阻测定系统 在“加压-粉体密实”状态下，自动、同步测量粉体的体积电阻率与压粉密度，为锂电、电子、磁性材料等研发与品管提供全新评价手段。

日本nittoseiko金属镀层自动触屏低电阻率计 低阻区 10⁻⁴–10⁷ Ω：采用恒流四探针法（JIS K 7194），标配 ASR 探头，可测导电塑料、ITO 薄膜、导电油墨/浆料、金属镀层等 。 高阻区 10³–10¹⁴ Ω：切换恒压双环电极法（JIS K 6911），选配 URS/UR 系列探头，可测防静电薄膜、工程塑料、涂料、陶瓷等 。