日本tsuruga鹤贺四端子法五档直流低电阻计 MODEL 356G-H 是一台直流低电阻计，采用四端子法，可在 30 mΩ～300 Ω 五档量程内快速、高精度地测量接触电阻、绕组电阻等微弱阻值。

高电阻率计 包装材料防静电特性评估 测量绝缘材料、半导体薄膜、防静电层等的高表面电阻率（Ω/□）与体积电阻率（Ω·cm），覆盖 10³–10¹⁴ Ω 的超宽量程，适用于研发、品管、FA 实验室。

PI、BCB薄膜研发高阻评估高电阻率计 测量绝缘材料、半导体薄膜、防静电层等的高表面电阻率（Ω/□）与体积电阻率（Ω·cm），覆盖 10³–10¹⁴ Ω 的超宽量程，适用于研发、品管、FA 实验室

绝缘高阻材料测量台式高电阻率计 超宽量程单台覆盖 10³ – 10¹⁴ Ω（@ 1 V–1000 V），无需更换主机即可测防静电薄膜到绝缘树脂。 1 V–1000 V 可编程扫描 29 档施加电压，带“自动电压扫描”模式，一次获得电阻-电压曲线，便于研究材料的非线性、击穿特性。

nittoseiko环氧树脂半导体薄膜高电阻率计 用途：测量绝缘材料、半导体薄膜、防静电层等的高表面电阻率（Ω/□）与体积电阻率（Ω·cm），覆盖 10³–10¹⁴ Ω 的超宽量程，适用于研发、品管、FA 实验室。

液晶显示器触控评估自动电阻率测定仪 对导电薄膜、金属箔、ITO 玻璃、触控/光伏大板等进行全自动二维 mapping，快速可视化整板电阻率（Ω/□）分布与均匀性，适用于生产线来料检验、工艺优化与失效分析。

桌面型ITO玻璃膜厚分布可视化低电阻率计 对导电薄膜、金属膜、ITO 玻璃等样品进行“表面电阻率 Ω/□”与“体积电阻率 Ω·cm”二维 mapping，快速可视化膜厚/组分均匀性。

导电薄膜膜厚分布评估低电阻率自动测定仪 对导电薄膜、金属膜、ITO 玻璃等样品进行“表面电阻率 Ω/□”与“体积电阻率 Ω·cm”二维 mapping，快速可视化膜厚/组分均匀性。