日本 KITANO（北野精机）场离子显微镜仪器日本北野精机 KFIM 是一款紧凑型场离子显微镜，可在超高真空环境下观察金属针尖表面原子图像，实现原子级分辨率观察，支持 STM 探针评估、针尖清洁与原子级调整，广泛应用于材料科学与表面物理研究领域。

日本 ARM SYSTEM 生物显微镜仪器日本 ARM SYSTEM AR-BS200 系列生物显微镜，分为双目（AR-BS200）与三目（AR-BS200TR）型号，搭载 4X-100X 物镜，支持 360° 旋转镜筒，三目款可连接相机采集图像，适用于教学实验、生物观察与基础科研场景。

日本 ARM SYSTEM 便携式金属显微镜仪器日本 ARM SYSTEM AM1040 是一款便携式金相显微镜，搭载可充电 LED 同轴光源，支持 100X/400X 倍率，带简易偏光功能，可连接相机采集图像，整机重 0.75kg，配备铝制便携箱，适合现场金属组织检测与材料分析。

日本 ARM SYSTEM 三目变倍体视显微镜仪器日本 ARM SYSTEM AR-Z81TR-PSN 是一款三目变倍体视显微镜，搭载格里诺光学系统，实现 6.5~53X 连续变倍，变倍比 8.1，视场数 24，支持外接成像设备，工作距离 100mm，适合工业质检、电子维修与科研观察场景。

日本 ARM SYSTEM 单目偏光显微镜仪器日本 ARM SYSTEM AR-BPOL 是一款单目偏光显微镜，专为矿物、晶体等各向异性材料的偏光观察设计，搭载 12V/20W 卤素照明与阿贝式聚光镜，支持 360° 旋转载物台和可取出式检偏器，结构紧凑，适合实验室教学与工业材料分析场景。

日本EMIC 广范围光学LED黑光灯日本 EMIC LB-409 是专为长尺寸工件设计的广范围 LED 黑光灯，采用无风扇静音设计，配备紫外线强度调节功能，照度可达 2000μW/cm² 以上，适配圆棒钢、管材等工件的磁粉探伤检测。

日本EMIC 高强度对应紫外线强度仪器日本 EMIC UV-D3紫外线强度计，专为黑光灯强度管理设计，适配 355~375nm 波长，测量范围 0~45mW/cm²，带峰值保持功能，数字显示清晰，采用 AA 电池供电，重量轻，适用于磁粉探伤场景的紫外强度检测。

日本EMIC 光学便携式LED黑光灯日本 EMIC LB-104 便携式 LED 黑光灯，专为磁粉探伤设计，采用 355~375nm 紫外 LED，功耗仅为传统产品的 1/7，中心强度高，可检测微小伤痕；支持 AC100-240V 供电，手持轻便，适配各类无损检测场景。