日本 LUCEO 光学元件脈理検査装置日本 LUCEO LSC-5100 是一款采用 阴影法（影絵法）的脈理 / 光学不均匀性检测装置，可可视化水晶板、玻璃等透明材料的内部脉理与表面研磨不均，专为低通滤波器用水晶板、蓝滤光片等高精度光学元件设计。

日本 LUCEO 近红外全自动应力检测仪器日本 LUCEO LSM-9100WNIR 是一款采用近红外（NIR）3 波长线偏振技术的全自动应力检测仪，可实现 φ100mm 以内有色树脂制品的快速面分布应力评估，消除人工误差，是光学与树脂材料质量控制的旗舰设备。

日电理化硝子 SIM 系列 便携式应力检测仪器日本日电理化硝子 SIM 系列便携式应力检测仪，采用圆偏振法原理，可快速、便捷地检测玻璃等透明物体的内应力与裂纹隐患，是玻璃制品质量控制与现场检测的核心工具。

日本折原制作所 Orihara 偏光应力仪器日本折原制作所 SVP-100 是一款专为透明材料设计的偏光应力仪，可通过颜色与图案直观观察并测量玻璃、塑料等材料的内应力分布，是光学与材料质量控制的关键设备。

日本 NAKAYAMA 便携式数字光学金属显微镜株式会社 中山技研（NAKAYAMA）是日本名古屋的精密测量与质量管理设备专业厂商，自 1972 年成立以来，深耕金属材料检测、金相分析领域，产品以便携、精准、合规著称，广泛应用于铸造、热处理、机械加工等行业的现场检测。

日本 JFE 半导体晶圆高分辨率膜厚测量仪器日本 JFE FDC-H1510 是 FiDiCa 系列高分辨率膜厚分布测定装置，专为半导体晶圆图案化膜层设计，以 5μm 超高分辨率实现 100nm-10μm 膜层的非接触式快速成像测量。

JFE 半导体晶圆非接触式膜厚分布测量仪器日本 JFE FiDiCa（菲迪卡）膜厚分布测定装置，基于光谱干涉技术，可对半导体、薄膜、液膜实现非接触式高速高精度膜厚分布成像，覆盖 50nm-800μm 宽量程，支持晶圆、柔性膜等多场景测量。

日本 JFE 近红外3波长线阵光学相机日本 JFE 近红外 3 波长线阵相机（FiDiCa 菲迪卡），搭载 InGaAs 线阵传感器，可同时检测近红外 3 个波长，将肉眼无法察觉的成分 / 品质差异可视化，适用于食品、工业材料的高速在线全检。