日本 PaPaLaB 二维全域色差外观检测仪器日本 PaPaLaB 原装 PPLB-240 二维色彩计，搭载模拟人眼 LMS 感光滤镜，全域面状一次性测色，数秒完成色彩色差检测。可图像 + 数值双重存储导出 CSV，复刻人眼视觉感受，量化感官色差不适，精度稳定，广泛用于各行业外观色彩品质管控。

日本 Santec 长景深1310nm光学断层测定器Santec IVS-2000-LC 是 1310nm 长成像型 SS-OCT 光学断层测定器，空气中成像深度可达 18mm 以上，适配带有高低落差的复杂器件一站式 3D 测量；1310nm 波段可穿透强散射材质，非接触无损获取内部分层与三维轮廓，专为手机复合镜头、厚层复合材料、凹凸精密零部件深度质检开发，可配套显微成像工作站使用。

日本 Santec 高速1310nm光学断层测定器Santec IVS-2000-HS 是 1310nm 高速型 SS-OCT 光学断层测定器，100kHz 超高扫描速率，大幅缩短产线单次检测耗时；红外波段易穿透强散射工件，非接触无损成像，适配工业自动化在线质检场景，可完成器件微结构成像、多层薄膜厚度测量、内部缺陷实时筛查，可配套高速扫描激光模组搭建一体化在线检测工作站。

日本 Santec 高分辨率1310nm光学断层测定器Santec IVS-2000-HR 是 1310nm 波段旗舰高分辨 SS-OCT 光学断层测定器，IVS 系列最高分辨机型，体内分辨率＜5μm，20kHz 高速扫描；红外波段易穿透强散射样品，无损无标记成像，适配化妆品皮肤机理研究、医药制剂检测、工业器件微结构与薄膜厚度测量，配套高速扫描激光与显微载物台，一体化集成成像平台。

日本 HORIBA 堀场 全自动晶圆薄膜量测系统HORIBA Xtrology 是高度可定制化全自动晶圆薄膜量测平台，可集成椭圆偏振、拉曼、光致发光三类光学传感器，单台设备完成薄膜厚度、光学参数、结晶度、材料成分、缺陷与应力检测。兼容 FOUP/SMIF 自动化晶圆传输，适配硅基与化合物半导体先进制程，搭载全套自研软硬件。

日本 YAMADEN 简易质构仪电脑数据分析系统TA-TPU2 是适配 TPU-2D/2DL 简易质构仪的专用电脑分析系统，基于 Windows 系统运行，可自动采集硬度、压缩强度原始波形，支持坐标自定义、数据放大查看、NO-GO 合格判定，原始数据与解析报表一键导出 Excel/Word，自带在线帮助，适配食品、日化实验室批量质检数据处理。

日本 YAMADEN 质构数据解析系统YAMADEN 配套 CA-3305 电脑分析系统，适配全系列蠕变质构仪，全新 Windows 操作界面，兼容旧版 DOS 数据迁移，支持多模式波形绘图、数据统计、批量导出，可对接办公软件，适配食品物性、蠕变、断裂强度试验全自动解析，操作直观，数据输出便捷。

日本 Pearl 透射式光轴偏心测量仪日本 Pearl 帕尔光学 CM-100α 透射式透镜偏心测量仪，专测凹凸 / 胶合透镜光轴偏心角度；搭载导航图表快速定心，刻度直读无需换算，10/20 秒双精度档位，适配 φ10-50mm、±3mm~ 无穷远各类镜头，7 寸黑白 CCD 成像，轻量化台式结构，是光学透镜同轴度精密检测专用设备。