日本yamabun非接触式半导体薄膜测厚仪 测量精度可达±0.01μm，能够实现高重复性和高稳定性的测量。 测量范围广：测量范围为0-500μm，工作区间为10-230μm，可满足多种薄膜材料的厚度测量需求。 快速测量：测量速度为100ms/点，能够快速完成测量，提高工作效率。

日本yamabun山文非接触式防尘膜测厚仪 测量精度可达±0.01μm，能够实现高重复性和高稳定性的测量。 测量范围广：测量范围为0-500μm，工作区间为10-230μm，可满足多种薄膜材料的厚度测量需求。 快速测量：测量速度为100ms/点，能够快速完成测量，提高工作效率。

日本yamabun山文电容式非接触测量测厚仪 采用电容式传感技术，通过测量极板间介电常数的变化来确定厚度，是非接触式测量方式。这种方式特别适用于难以用接触式测量的薄膜，即使表面状况粗糙，也可以进行测量。 自动介电常数设置功能：具有自动介电常数设置功能，简化了操作流程。

日本yamabun山文桌上型PET薄膜测厚仪 接触式测量：采用高精度的机械接触测量技术，通过高精度的传感器与被测物体表面接触，直接测量物体的厚度，确保了测量的高精度和高重复性。 自动运输测量：设备采用自动运输方式，确保测量数据的准确性和一致性，减少了人为误差

日本yamabun山文薄膜研发品质管理用测厚仪 接触式测量：采用高精度的机械接触测量技术，通过高精度的传感器与被测物体表面接触，直接测量物体的厚度，确保了测量的高精度和高重复性。 自动运输测量：设备采用自动运输方式，确保测量数据的准确性和一致性，减少了人为误差

日本yamabun山文接触型离线式薄膜测厚仪 接触式测量：采用高精度的机械接触测量技术，通过高精度的传感器与被测物体表面接触，直接测量物体的厚度，确保了测量的高精度和高重复性。 自动运输测量：设备采用自动运输方式，确保测量数据的准确性和一致性，减少了人为误差

日本yamabun山文材料自动运输少误差测厚仪 接触式测量：采用高精度的机械接触测量技术，通过高精度的传感器与被测物体表面接触，直接测量物体的厚度，确保了测量的高精度和高重复性。 自动运输测量：设备采用自动运输方式，确保测量数据的准确性和一致性，减少了人为误差

日本yamabun山文离线夹持式薄膜测厚仪 快速便捷的离线厚度测量：能够简单快速地进行离线厚度测量。 实时数据展示：测量数据会实时显示在屏幕上。 自动数据保存：测量数据可以自动保存至电脑。 自动传送测量：由于采用自动传送进行测量，因此测量数据不会因人而异。