非接触式低污染粘性保护膜薄膜测厚仪 测量精度可达±0.01μm，能够实现高重复性和高稳定性的测量。 测量范围广：测量范围为0-500μm，工作区间为10-230μm，可满足多种薄膜材料的厚度测量需求。 快速测量：测量速度为100ms/点，能够快速完成测量，提高工作效率。

桌上型金属合金镀层涂层测厚仪 可测量铜、镍、铬、锌、锡、银、金、铜-锌合金、锡-铅合金等多种电镀材料的厚度。通过选配的电解液，还可测量镉、无电解镍（Ni-P）、锡-锌合金、铅、铁等电镀材料。

多层镍电镀电位差电镀层厚度测量仪 多种电镀材料测量：可测量铜、镍、铬、锌、锡、银、金、铜-锌合金、锡-铅合金等多种电镀材料的厚度。通过选配的电解液，还可测量镉、无电解镍（Ni-P）、锡-锌合金、铅、铁等电镀材料。

各类金属电镀材料镀层厚度测量仪测厚仪 多种电镀材料测量：可测量铜、镍、铬、锌、锡、银、金、铜-锌合金、锡-铅合金等多种电镀材料的厚度。通过选配的电解液，还可测量镉、无电解镍（Ni-P）、锡-锌合金、铅、铁等电镀材料。

电解式金属合金镀层涂层厚度测量仪膜厚仪 可测量铜、镍、铬、锌、锡、银、金、铜-锌合金、锡-铅合金等多种电镀材料的厚度。通过选配的电解液，还可测量镉、无电解镍（Ni-P）、锡-锌合金、铅、铁等电镀材料。

高重复性非接触离线分光干涉式测厚仪 TOF-S 是一款桌面型离线分光干涉式厚度测量装置，主要用于测量电子、光学用透明平滑薄膜和多层薄膜的厚度。 实现高重复性测量，精度可达±0.01微米以下（取决于被测物和测量条件）。 温度稳定性：受温度变化影响小，适合在不同环境条件下使用。 非接触式测量：采用分光干涉式原理，无需接触被测物，减少对被测物的损伤。 可以从薄膜的一侧进行测量，适合测量透明涂膜

光学薄膜桌面型离线接触式线性测厚仪 桌面型离线接触式厚度测量装置，适用于薄膜、高精度塑料薄膜（如聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等）的厚度测量。 自动运输测量，确保测量数据的一致性，无个人差异。 厚度分布雷达图：可用于调整膨胀薄膜，直观展示厚度分布。 高精度测量：接触式测量，最小显示值可达0.01微米。

薄膜研发用离线静电容量式非接触式测厚仪 测量精度可达±0.01μm，能够实现高重复性和高稳定性的测量。 测量范围广：测量范围为0-500μm，工作区间为10-230μm，可满足多种薄膜材料的厚度测量需求。 快速测量：测量速度为100ms/点，能够快速完成测量，提高工作效率。