日本 AXIS NET 光电倍增管电流检测放大器CA 系列 / A4200 系列高速电流放大器，主要用于将光电倍增管、光电二极管、电离室、传感器等输出的微弱电流信号转换并放大为可测量的电压信号。 产品具备高速响应、多档增益切换、低噪声放大和远程控制功能，适合微弱电流检测、光电检测、核辐射检测、粒子检测、光谱分析和精密测量等应用场景。

日本 AIKOH 立式拉力试验机触控主控控制器日本原装 MODEL-1018 一体化测控单元，兼具称重 / 扭矩传感器信号放大与立式测试机架运动控制；搭载 10×6 触控液晶屏，24bit 超高位移分解精度，双通道位移计数；可存储校准 10 组传感器参数，支持 USB 导出 CSV 测试数据，适配荷重位移、扭矩角度、开关感应、蠕变耐久各类力学试验，适配 AIKOH 全系立式电动测试台。

Japan Sensor 交流面板红外温度显示控制器日本 Japan Sensor TMCX 系列面板式温度显示设定器，分 AC 交流、直流、经济型三款机型，一键对接 TMHX 红外温度计，支持 0.001s 高速测温采集，具备峰值保持、多点报警、RS485 通讯、模拟量输出功能；大屏 LED 远距离可视，宽温工作区间，适配工业热处理、半导体产线在线测温监控。

日本 HORIBA 多气体多量程数字流量控制器HORIBA SEC-Z500X 是经典量产型数字质量流量控制器，支持现场在线切换工艺气体与满量程，无需拆机拆装；搭载可变 PID 控制系统，全量程 ±1.0% 设定点高精度，任意设定点响应≤1s；压电阀全金属结构，适配半导体、光伏、实验室研发等多领域，大幅减少备件种类，降低使用成本。

日本 HORIBA 半导体宽范围压力流量控制器HORIBA D700WR 属于 CRITERION 平台宽范围压敏型 MFC，搭载全新节流组件，实现0.1~100% FS 超宽流量区间精密控制；配备高可靠 CIP 压力传感器与耐腐 PFA 喷嘴，上升响应≤500ms，内置状态监测功能，单台设备可兼顾高低流量工艺，精简气路配置，适配半导体刻蚀、沉积多工况研发与量产产线。

日本 HORIBA 半导体微流量压力流量控制器HORIBA D700uF 属于 CRITERION 平台微流量压强不敏感 MFC，专为≤5SCCM 微量工艺开发，可控至 0.025SCCM；采用专用低流量基准与内部流量计量技术，上升响应≤100ms；标配 PFA 喷嘴、内置状态监控，适配高深宽比刻蚀、ALD 等需要微量气体精准配比的优良半导体工艺。

日本 HORIBA 半导体高性能压力流量控制器HORIBA D700T（D717T）属于 CRITERION 平台高性能压力非敏感 MFC，采用双阀控制算法，全量程≤100ms 响应；具备进出口压力不敏感特性，内置高级故障诊断；重复性可达 0.15% S.P，工作温度拓宽至 15~60℃，面向严苛优良半导体刻蚀、薄膜沉积制程。

日本 HORIBA 半导体压力质量流量控制器HORIBA STEC D700MG（D717MG）属于 CRITERION 系列压力非敏感型 MFC，D500MG 向上兼容机型，搭载压电阀，最快 100ms 调节响应；支持 EtherCAT 总线在线更改气体与满量程，配备 PFA 喷嘴、MRMG 小流量功能，内置状态监测，面向刻蚀、薄膜沉积等优良半导体制程。