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日本JSD半导体薄膜研磨加工激光检查装置

日本JSD半导体薄膜研磨加工激光检查装置
利用激光指向性强、反射形状稳定的特性，通过解析反射光形状，结合独自算法将研磨状态转化为 0～255 的数值（数值越接近 0，研磨状态越好），同时可换算出小数点后 3 位的表面粗糙度值（单位：微米），实现研磨品质的精准量化。

产品型号：LIMA01
厂商性质：经销商
更新时间：2025-11-12
访问量：38

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联系电话：13823182047

详细介绍

日本JSD半导体薄膜研磨加工激光检查装置
日本JSD半导体薄膜研磨加工激光检查装置

研磨加工检查装置【LIMA01】

产品概念

LIMA01 将“研磨后的表面状态"用激光光学原理量化，解决以下现场痛点：

依赖熟练检验员，人手不足
目视易漏检，质量波动大
客户要求提高，需把"差不多"变成具体数值
想防止过高质量带来的成本浪费

测量原理

发射准直激光（指向性高、扩散小）
接收反射光斑形状

越接近原发射圆斑 → 表面越光滑（研磨良好）
形状畸变越大 → 仍有细微划痕（研磨不足）

算法把光斑畸变量化成0-255的整数值

数值越小 → 研磨品质越高
数值越大 → 残留划痕越多

主要规格

重量：约500g（轻量，女性/高龄作业者也可使用）
供电：USB 5V（无需额外电源，可移动作业）
判定输出：即时数值 + 三色LED/画面（绿/黄/红）
数据：可保存、回放、共享（CSV或专用格式）

使用方法

取"良品"和"不良品"样品各若干
用LIMA01测量并记录对应数值
在软件内设定：

0-A → 绿色（良品）
A-B → 黄色（需确认）
B-255 → 红色（不良品）

后续检测只需对准工件按触发键，即刻颜色判定

优点

量化结果 → 消除人为漏检与主观差异
无需熟练工 → 任何员工1分钟学会
轻便+USB供电 → 产线、仓库、出差验证皆可
判定界限及颜色 → 用户可自定义，切换产品也简单
数据保存 → 便于追溯、报告、与客户共享

应用示例

金属手机外壳、铝压铸件研磨后检查
不锈钢厨房器具镜面抛光确认
汽车轮毂、装饰条精细打磨判定
刀具、模具刃口表面品质抽检

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日本JSD半导体薄膜研磨加工激光检查装置

研磨加工检查装置【LIMA01】

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测量原理

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