





日本 KATO KOKEN 半导体微粒子观测片状光源 日本 KATO KOKEN KLM-600FC 荧光片状光源,1 类安全黄光照明,无需复杂激光防护;分体光纤薄型发光头输出均匀片光,抗水汽散射,可用于 PIV 流体测速、洁净室微粒子可视化,适配半导体、实验室无尘环境长期观测微粒与气流轨迹。
产品型号:KLM-600FC
厂商性质:经销商
更新时间:2026-06-26
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日本 KATO KOKEN 半导体微粒子观测片状光源 日本 KATO KOKEN 半导体微粒子观测片状光源
1. 产品概述
KLM-600FC 是日本加藤兴研自研的荧光式片状照明光源,区别于传统高功率激光与普通 LED,采用青色激光二极管 + 荧光体复合结构生成高亮度均匀黄光,属于 1 类安全光源,大幅降低激光安全管控门槛;输出均匀片状黄光,专门用于 PIV 流体测速、洁净室 0.3μm 级悬浮微粒观测、气流 / 液相流场可视化,适配半导体、光伏、实验室等无尘生产场景。
2. 完整硬件规格参数
表格
参数项目技术指标
发光颜色黄色荧光光
驱动 / 调光定电流驱动,电流无级可调
输入电源AC100~240V(±10%),50/60Hz 宽电压
功耗100V 输入 410VA;240V 输入 420VA
冷却方式强制风冷
主机尺寸 / 重量215×175×270mm,整机 7.8kg
光纤光学头尺寸60×170×18mm,光纤线缆总长 3m
标准配件说明书、2 米 3P 接地 AC 电源线
3. 核心工作原理
内部青色激光二极管照射荧光转换介质,激发均匀高亮度黄光;可精准控制光束发散角,输出薄型均匀片光;黄光抗水汽、雾气散射干扰,高颗粒浓度环境下依旧清晰捕捉粒子轮廓。
四、五大核心产品优势
1. 1 类低安全等级,现场使用无严苛管控
无需 3B/4 类高功率激光的复杂安全防护、场地限制,普通洁净室、实验室可直接部署,降低现场安全管理成本。
2. 黄光抗散射,高浓度微粒清晰成像
黄色光不受水滴、雾气散射干扰,在高粉尘、高雾浓度工况下,粒子轮廓辨识度远优于白光、绿光光源,适配 0.3μm 半导体微颗粒观测。
3. 均匀高亮度片光,全流程 PIV 测量适配
片光亮度充足,可完整支撑粒子追踪、速度矢量计算、涡流涡旋解析全流程 PIV 实验,兼容市面主流高速相机与 PIV 分析软件。
4. 分体光纤设计,狭小空间灵活布光
主机与发光头通过 3 米光纤分离,发光头轻薄小巧,可伸入产线腔体、风道、液槽内部完成可视化观测。
5. 工业级宽电压适配,长期稳定运行
全球通用 AC100~240V 宽电压输入,强制风冷散热,可长时间连续工作,适配工厂 24 小时量产质检。
五、适用测量场景与行业
核心应用场景
PIV 流体测速:空调风道气流可视化、液相流场观测、流体速度矢量 / 涡度计算分析;
洁净室微粒溯源:半导体车间 0.3μm 悬浮粒子、粉尘漂浮轨迹可视化,异物污染源定位验证;
产线粉尘管控:光伏、显示、精密制造无尘车间扬尘、发尘源头快速排查。
适配行业
半导体晶圆制造、光伏电池工厂、显示面板产线、流体力学实验室、航空航天风洞实验室、精密医疗器械洁净车间。