日本 Takano 高野 偏光膜在线瑕疵扫描仪器

日本 Takano 高野 偏光膜在线瑕疵扫描仪器 日本 Takano 高野 偏光膜在线瑕疵扫描仪器

1. 产品概述

HAWKEYES ONE 是 Takano 面向高速涂布产线推出的无基材薄膜超高速全幅视觉检测系统，搭载品牌自研高分辨率线阵相机与 AI 缺陷分类算法，最高支持 200m/min 产线走速，最小 5μm 微小缺陷稳定捕捉；一套设备同步识别涂布全品类瑕疵，适配光学、锂电、电子、基材四大类薄膜，配套 FA 工业工控软件，完整记录缺陷坐标、图像、趋势报表，支持产线标记剔除联动，是薄膜量产品质管控核心设备。

2. 硬件整机规格

表格

硬件项目参数详情

自研线阵相机像素8000 像素 / 16000 像素双规格可选

控制工控主机FA 工业规格 PC

成像光学定制专用工业镜头 + 多通道特殊照明单元

产线速度 & 对应分辨率50m/min→5μm；100m/min→10μm；200m/min→20μm

系统架构卷材放卷 - 照明 - 相机 - 图像处理单元 - 标记机（选配）

3. 配套软件完整功能

缺陷检测处理模块

实时缺陷判定、噪声抑制、空间滤波算法、缺陷 Map 全域分布图可视化

数据追溯查看模块

缺陷坐标清单、缺陷原图存储、不良趋势曲线、批量统计报表、粒径分类统计

拓展定制服务

UI 界面定制、新增缺陷算法、对接产线 MES / 剔除设备、功能模块按需开发

4. 可检出全品类薄膜缺陷清单

穴系缺陷：涂层缺失、针孔凹坑

涂布条纹缺陷：横向辊印条纹、纵向划痕、膜面褶皱

凹凸异物缺陷：表面颗粒脏污、划伤、内部气泡、凸起颗粒

姆拉膜厚不均缺陷：涂布厚薄姆拉、刮痕色差

最小稳定检出 5μm 细微瑕疵，多缺陷并行同步运算，无漏检、低误判。

5. 四大核心产品特长

01 适配超高速量产产线

自研高感光线阵相机，200m/min 高速走膜仍保持 20μm 高精度检测，匹配薄膜高速涂布产线，不拖慢生产节拍。

02 多算法并行多缺陷同步检测

自研多层图像处理单元，单次扫描同时识别黑点、姆拉、条纹、气泡、划伤等数十种瑕疵，无需分段切换检测模式。

03 人机友好可视化操作软件

分区缺陷预览、全域缺陷地图、历史缺陷图库、工艺参数食谱存储，界面简洁易上手，降低操作人员学习成本。

04 Takano AI 智能缺陷自动分类

搭载自研 AI 图像识别模型，无需人工手动筛选，系统自动区分缺陷类型、尺寸等级，大幅减少人工复检工作量，稳定管控流出不良。

6. 四大适配薄膜品类 & 下游客户

光学薄膜

偏光膜、扩散膜、相位膜、防反射膜、TAC/PET 基材膜

适用客户：光学显示膜材厂、LCD/OLED 配套企业

电子元件薄膜

MLCC 离型膜、CCL/FCCL 覆铜板、DFR 干膜、绝缘粘接膜

适用客户：PCB、被动元器件、柔性电子厂商

新能源薄膜

锂电池隔膜、铜铝金属箔

适用客户：锂电正极 / 负极 / 隔膜材料制造企业

通用基材薄膜

PET、PI 耐高温薄膜、各类功能涂布基材

适用客户：功能性薄膜、特种材料研发及量产工厂